Der Kurs Device Testing with Digital Pattern Instruments ermöglicht es Test- und Validierungsingenieuren, Charakterisierungs- und Produktionstests von Halbleitergeräten mit Digital Pattern Instruments durchzuführen. Im Mittelpunkt des Kurses steht die Nutzung von Digital Pattern Instruments und des Digital Pattern Editors zur Durchführung häufiger Gerätetests, wobei der Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, digitalen Schnittstellentests sowie Durchgangs- und Leckagetests liegt. Der Kurs führt die Teilnehmer durch den kompletten Test-Workflow, von der Kalibrierung und Fehlersuche bis hin zur Erweiterung von Tests zu einer Test-Ausführungsumgebung.
Auf Anforderung, 4 Stunden
Testingenieure, die Halbleitergeräte charakterisieren und Produktionstests durchführen
Keine
PXIe-Messgeräte für Digitalmuster von NI
Digitalmuster-Editor von NI
alle Elemente zu erstellen und zu bearbeiten, die erforderlich sind, um ein Digitalmuster in Ihren Prüfling zu laden, einschließlich Pin-Maps, Level-Tabellenblätter, Timing-Tabellenblätter und Musterdateien;
Betriebsarten des Prüflings mit SPI-Befehlen zu testen;
die Kommunikation mit dem Prüfling durch Register-Rücklesetests zu validieren;
das Timing des Prüflings durch Kopplung mit externen Testgeräten zu validieren;
Anschlüsse des Prüflings durch Durchgangs- und Leckagetests zu validieren;
Opcodes zu verwenden, um die Ablaufsteuerung innerhalb von Mustern zu etablieren;
Quell- und Erfassungssignalverläufe zur Vereinfachung der Musterstruktur und zum Speichern von Daten einzusetzen;
Ihr Digital Pattern Instrument mit anderen Geräten in Ihren Systemen zu synchronisieren;
History-RAM-Reports, Shmoo-Plots und Digital Scope für die Fehlersuche einzusetzen;
Ihre Geräte zu kalibrieren und eventuelle Kabel-Laufzeitunterschiede zu korrigieren.
| Lektion | Übersicht | Themen |
|---|---|---|
| Erstellen und Bursten Ihres ersten Digitalmusters | Konfigurieren einer Pin-Map, eines Level-Tabellenblatts, eines Timing-Tabellenblatts und einer Musterdatei, wobei ein digitales Muster auf das zu testende Gerät (DUT) übertragen wird |
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| Pin-Maps erstellen | Erstellen von Pin-Maps im Digital Pattern Editor zum Definieren von Prüflingsverbindungen |
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| Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen | Speichern von Werten aus dem Datenblatt des Prüflings in Tabellenblättern mit Spezifikationen |
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| Pin-Level-Tabellenblätter erstellen | Erstellen von Pin-Level-Tabellenblättern zum Definieren der Versorgungsspannungen, Abschlüsse und Logikpegel für den Prüfling |
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| Timing-Tabellenblätter erstellen | Erstellen von Timing-Tabellenblättern zum Definieren der Timing-Eigenschaften der Schnittstelle mit dem Prüfling |
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| Erstellen von Musterdateien | Erstellen von Musterdateien, um mit dem Prüfling zu kommunizieren und ihn zu testen |
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| Programmierung von Digitalmustern in LabVIEW | Programmatisches Steuern von Digital Pattern Instruments mit der Digitalmuster-API von NI. |
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| Testen der Betriebsarten des Prüflings | Konfigurieren des Prüflings mit SPI-Befehlen (Serial Peripheral Interface, serielle periphere Schnittstelle) zum Testen seiner Betriebsarten |
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| Durchführen von Registerrücklesetests | Durchführen eines Registerrücklesetests zur Validierung der Kommunikationsfunktionen des Prüflings. |
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| Validieren des Prüflings-Timings | Anbindung an externe Testgeräte zur Validierung des Prüflings-Timings. |
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| Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests | Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests zur Validierung von Prüflings-Pinverbindungen. |
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Erhöhen der Muster-Robustheit mit Ablaufsteuerung
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Erhöhen der Muster-Robustheit durch Verwendung von Opcodes zur Einrichtung der Ablaufsteuerung.
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Verwenden von Quellsignalverläufen
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Verwenden von seriellen und parallelen Quellsignalverläufen, um eine Musterstruktur mit variablen Daten zu vereinfachen.
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Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen
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Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen zum Speichern empfangener Daten zur Validierung und Nachbearbeitung.
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Prüfen von Testergebnissen mit Historien-RAM-Reports
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Verwenden des Ergebnisses des Historien-RAM-Reports zur Fehlersuche im Muster oder im Prüfling.
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Anzeigen von Signalen mit digitalem Oszilloskop
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Verwenden eines digitalen Oszilloskops zur Anzeige der tatsächlichen Spannungspegel an den Pins des Digital Pattern Instrument (PXIe-657x).
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Darstellen von Parameterverhältnissen mit Shmoo-Plots
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Verwenden von Shmoo-Plots zum Durchlaufen von Musterparametern und Anzeigen der Ergebnisse.
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Synchronisation mit anderen Geräten
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Implementieren von Synchronisationsstrategien, z. B. gemeinsame Trigger oder Verwendung von NI-TClk zur Koordinierung von Tasks mit anderen Geräten.
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Verkabelung und Kalibrierung
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Ausgleich von Laufzeitunterschieden über Kabel und Spannungs-Offsets und Untersuchen der Anforderungen an die Gerätekalibrierung
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Verwenden von Opcodes für Scan-Tests
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Aufteilen eines Vektors in einen oder mehrere Scankreisläufe mit Scan-Opcodes
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