Device Testing with Digital Pattern Instruments, Überblick zur Schulung

Der Kurs Device Testing with Digital Pattern Instruments ermöglicht es Test- und Validierungsingenieuren, Charakterisierungs- und Produktionstests von Halbleitergeräten mit Digital Pattern Instruments durchzuführen. Im Mittelpunkt des Kurses steht die Nutzung von Digital Pattern Instruments und des Digital Pattern Editors zur Durchführung häufiger Gerätetests, wobei der Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, digitalen Schnittstellentests sowie Durchgangs- und Leckagetests liegt. Der Kurs führt die Teilnehmer durch den kompletten Test-Workflow, von der Kalibrierung und Fehlersuche bis hin zur Erweiterung von Tests zu einer Test-Ausführungsumgebung.

Kursdetails:

Device Testing with Digital Pattern Instruments, Zusammenfassung

Lektion Übersicht Themen
Erstellen und Bursten Ihres ersten Digitalmusters
Konfigurieren einer Pin-Map, eines Level-Tabellenblatts, eines Timing-Tabellenblatts und einer Musterdatei, wobei ein digitales Muster auf das zu testende Gerät (DUT) übertragen wird
  • PXI-Messgerät für Digitalmuster

  • Hauptmerkmale von Digital Pattern Instruments

  • Erstellen und Bursten von Digitalmustern

Pin-Maps erstellen Erstellen von Pin-Maps im Digital Pattern Editor zum Definieren von Prüflingsverbindungen
  • Pin-Map-Übersicht

  • Erstellen und Bearbeiten von Pin-Maps

Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen Speichern von Werten aus dem Datenblatt des Prüflings in Tabellenblättern mit Spezifikationen 
  • Tabellenblätter mit Spezifikationen

  • Editieren von Tabellenblättern mit Spezifikationen

Pin-Level-Tabellenblätter erstellen Erstellen von Pin-Level-Tabellenblättern zum Definieren der Versorgungsspannungen, Abschlüsse und Logikpegel für den Prüfling
  • Steuern und Vergleichen von digitalen Daten

  • Abschlussmodi

  • Pin-Level-Tabellenblätter

  • Bearbeiten von Pin-Levels mit dem Digital Pattern Editor  

Timing-Tabellenblätter erstellen Erstellen von Timing-Tabellenblättern zum Definieren der Timing-Eigenschaften der Schnittstelle mit dem Prüfling
  • Timing-Tabellenblätter

  • Laufwerksformat

  • Drive Edges

  • Strobe vergleichen 

  • Zeiteinstellungen bearbeiten

Erstellen von Musterdateien Erstellen von Musterdateien, um mit dem Prüfling zu kommunizieren und ihn zu testen
  • Muster-Workflow

  • Konvertieren vorhandener Arbeitsdateien

  • Importieren von Quelldateien

  • Grundlegendes zu Mustern 

  • Musterdaten

  • Bearbeiten von Mustern in der Rasteransicht

  • Ansicht des Mustersignalverlaufs

  • Laden und Bursting von Mustern  

Programmierung von Digitalmustern in LabVIEW Programmatisches Steuern von Digital Pattern Instruments mit der Digitalmuster-API von NI.
  • Digitalmuster-API von NI – Übersicht
  • Bearbeiten von Pin-Maps mit der Digitalmuster-API von NI
  • Bearbeiten von Pin-Levels mit der Digitalmuster-API von NI
  • Bearbeiten von Zeitsets mit der Digitalmuster-API von NI
  • Laden von Dateien mit der Digitalmuster-API von NI
Testen der Betriebsarten des Prüflings Konfigurieren des Prüflings mit SPI-Befehlen (Serial Peripheral Interface, serielle periphere Schnittstelle) zum Testen seiner Betriebsarten
  • Kennenlernen der SPI-Kommunikation
  • SPI-Kommunikation mit dem Beispiel-Prüfling
Durchführen von Registerrücklesetests Durchführen eines Registerrücklesetests zur Validierung der Kommunikationsfunktionen des Prüflings.
  • Einführung in Registerrücklesetests
  • Registerrücklesetests
Validieren des Prüflings-Timings Anbindung an externe Testgeräte zur Validierung des Prüflings-Timings.
  • Einführung in die Validierung des Prüflings-Timings
  • Validieren des Timings des Prüflings-Timings
Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests zur Validierung von Prüflings-Pinverbindungen.
  • Einführung in Durchlauf- und Leckagetests
  • Grundlagen zur PPMU (Pin Parametric Measurement Unit, Pinparameter-Messeinheit)

 

 

Erhöhen der Muster-Robustheit mit Ablaufsteuerung

 

 

 

 

Erhöhen der Muster-Robustheit durch Verwendung von Opcodes zur Einrichtung der Ablaufsteuerung.

 

 

 

 

  • Einführung in Opcodes im Digitalmuster-Editor
  • Verwenden von Wiederholungs- und Schleifen-Opcodes in Mustern
  • Kennenlernen von Spring- und Aufrufs-Opcodes
  • Verwenden von bedingten Funktionsweisen
  • Kennenlernen von Sequencer-Flags und Register-Opcodes

 

 

 

 

Verwenden von Quellsignalverläufen

 

 

 

 

Verwenden von seriellen und parallelen Quellsignalverläufen, um eine Musterstruktur mit variablen Daten zu vereinfachen.

 

 

 

 

  • Kennenlernen von Quellsignalverläufen
  • Konfigurieren von seriellen Quellsignalverläufen
  • Verwenden von seriellen Quellsignalverläufen in Mustern 
  • Kennenlernen des Wechsels von Quellpinstatus 
  • Laden und Entfernen von Quellsignalverläufen 
  • Konfigurieren paralleler Quellsignalverläufe
  • Verwenden von parallelen Quellsignalverläufen in Mustern 
  • Überlegungen zur Quellbandbreite

 

 

 

 

Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen

 

 

 

 

Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen zum Speichern empfangener Daten zur Validierung und Nachbearbeitung.

 

 

 

 

  • Kennenlernen von aufgezeichneten Signalverläufen
  • Konfigurieren von seriellen erfassten Signalverläufen
  • Konfigurieren von parallelen erfassten Signalverläufen
  • Verwenden von erfassten Signalverläufen in Mustern
  • Laden und Entfernen von erfassten Signalverläufen
  • Überlegungen zu erfassten Signalverläufen 

 

 

 

 

Prüfen von Testergebnissen mit Historien-RAM-Reports

 

 

 

 

Verwenden des Ergebnisses des Historien-RAM-Reports zur Fehlersuche im Muster oder im Prüfling.

 

 

 

 

  • Kennenlernen des Historien-RAM
  • Verwenden der NI-Digital Historien-RAM-API 
  • Überlegungen zum Arbeitsspeicher und zur Bandbreite

 

 

 

 

Anzeigen von Signalen mit digitalem Oszilloskop

 

 

 

 

Verwenden eines digitalen Oszilloskops zur Anzeige der tatsächlichen Spannungspegel an den Pins des Digital Pattern Instrument (PXIe-657x).

 

 

 

 

  • Kennenlernen des digitalen Oszilloskops
  • Konfigurieren und Verwenden eines digitalen Oszilloskops

 

 

 

 

Darstellen von Parameterverhältnissen mit Shmoo-Plots

 

 

 

 

 

 

 

Verwenden von Shmoo-Plots zum Durchlaufen von Musterparametern und Anzeigen der Ergebnisse.

 

 

 

 

 

 

 

  • Kennenlernen von Shmoo-Plots
  • Kennenlernen der Ausführungsmodi von Shmoo-Plots

 

 

 

 

Synchronisation mit anderen Geräten

 

 

 

 

Implementieren von Synchronisationsstrategien, z. B. gemeinsame Trigger oder Verwendung von NI-TClk zur Koordinierung von Tasks mit anderen Geräten.

 

 

 

 

  • Erzeugen von Triggern
  • Konfigurieren des Start-Triggers 
  • Verwenden von NI-TClk mit mehreren Geräten 
  • Erkennen von Treffer- oder Fehlerbedingungen
  • Überblick über Synchronisationsmethoden

 

 

 

 

Verkabelung und Kalibrierung

 

 

 

 

Ausgleich von Laufzeitunterschieden über Kabel und Spannungs-Offsets und Untersuchen der Anforderungen an die Gerätekalibrierung

 

 

 

 

  • Konfigurieren der Zeitbereichsreflektometrie
  • Verbinden von Ground Sense des Prüflings
  • Kalibrieren von Geräten für Digitalmuster

 

 

 

 

Verwenden von Opcodes für Scan-Tests

 

 

 

 

Aufteilen eines Vektors in einen oder mehrere Scankreisläufe mit Scan-Opcodes

 

 

 

 

  • Kennenlernen von Scan-Mustern
  • Verwenden des Scan-Opcodes in Mustern 

 

 

Beginnen Sie noch heute mit dem Kurs Device Testing with Digital Pattern Instruments