Device Testing with Digital Pattern Instruments

Der Kurs Device Testing with Digital Pattern Instruments ermöglicht es Test- und Validierungsingenieuren, Charakterisierungs- und Produktionstests von Halbleitergeräten mit Digital Pattern Instruments durchzuführen. Im Mittelpunkt des Kurses steht die Nutzung von Digital Pattern Instruments und des Digital Pattern Editors zur Durchführung häufiger Gerätetests, wobei der Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, digitalen Schnittstellentests sowie Durchgangs- und Leckagetests liegt. Der Kurs führt die Teilnehmer durch den kompletten Test-Workflow, von der Kalibrierung und Fehlersuche bis hin zur Erweiterung von Tests zu einer Test-Ausführungsumgebung.

Kursdetails:

Device Testing with Digital Pattern Instruments, Zusammenfassung

Lektion Übersicht Themen

 

 

Erstellen und Bursten Ihres ersten Digitalmusters

 

 

 

 

 

 

 

Konfigurieren einer Pin-Map, eines Level-Tabellenblatts, eines Timing-Tabellenblatts und einer Musterdatei, wobei ein digitales Muster auf das zu testende Gerät (DUT) übertragen wird

 

 

 

 

 

 

 

  • PXI-Messgerät für Digitalmuster

  • Hauptmerkmale von Digital Pattern Instruments

  • Erstellen und Bursten von Digitalmustern

 

 

 

 

 

 

 

Pin-Maps erstellen

 

 

 

 

 

 

 

Erstellen von Pin-Maps im Digital Pattern Editor zum Definieren von Prüflingsverbindungen

 

 

 

 

 

 

 

  • Pin-Map-Übersicht

  • Erstellen und Bearbeiten von Pin-Maps

 

 

 

 

Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen

 

 

 

 

 

 

 

Speichern von Werten aus dem Datenblatt des Prüflings in Tabellenblättern mit Spezifikationen 

 

 

 

 

 

 

 

  • Tabellenblätter mit Spezifikationen

  • Editieren von Tabellenblättern mit Spezifikationen

 

 

 

 

Pin-Level-Tabellenblätter erstellen

 

 

 

 

 

 

 

Erstellen von Pin-Level-Tabellenblättern zum Definieren der Versorgungsspannungen, Abschlüsse und Logikpegel für den Prüfling

 

 

 

 

 

 

 

  • Steuern und Vergleichen von digitalen Daten

  • Abschlussmodi

  • Pin-Level-Tabellenblätter

  • Bearbeiten von Pin-Levels mit dem Digital Pattern Editor  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Timing-Tabellenblätter erstellen

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Erstellen von Timing-Tabellenblättern zum Definieren der Timing-Eigenschaften der Schnittstelle mit dem Prüfling

 

 

 

 

 

 

 

  • Timing-Tabellenblätter

  • Laufwerksformat

  • Drive Edges

  • Strobe vergleichen 

  • Zeiteinstellungen bearbeiten

 

 

 

 

Erstellen von Musterdateien

 

 

 

 

 

 

 

Erstellen von Musterdateien, um mit dem Prüfling zu kommunizieren und ihn zu testen

 

 

 

 

 

 

 

  • Muster-Workflow

  • Konvertieren vorhandener Arbeitsdateien

  • Importieren von Quelldateien

  • Grundlegendes zu Mustern 

  • Musterdaten

  • Bearbeiten von Mustern in der Rasteransicht

  • Ansicht des Mustersignalverlaufs

  • Laden und Bursting von Mustern  

 

 

Beginnen Sie noch heute mit dem Testen von Geräten mit Digital Pattern Instruments