Reduzieren Sie die Testzeit, erhöhen Sie den Durchsatz und werden Sie den aktuellen Fertigungsanforderungen gerecht, indem Sie ein ganzes Rack mit bis zu 408 SMU-Kanälen in einem einzigen PXI-Gehäuse auf einem Raum von nur wenigen Zentimetern unterbringen.
Das Einschwingverhalten der PXI-SMUs lässt sich mithilfe der Technologie NI SourceAdapt digital so steuern, dass die Stabilität erhöht, ein Überschwingen reduziert und Prüfzeiten verkürzt werden, und hilft ihnen dabei, individuell angepasste Schaltungen zu vermeiden.
Die Neukonfiguration und Wiederverwendung derselben SMU in allen Testfällen erfolgt über konfigurationsbasierte IV-Sweeps in der InstrumentStudio-Software und ermöglicht eine umfassendere Anpassung in den Programmierumgebungen.
Erzielen Sie schneller Ergebnisse durch die Beseitigung der Kommunikationslatenz zwischen dem Hostrechner und der SMU bei jeder Messung einer Sequenz. Zudem können Sie bei jedem Schritt verschiedene SMU-Parameter verändern wie z. B. Ausgabemodus, Abtastzeit, Strommessbereich und Sprungantwort.
PXI-SMUs können Gleichstrom und -spannung statt konstant auch gepulst ausgeben. So ist ein Betrieb der SMU auch außerhalb der einfachen DC-Grenze möglich, wodurch das Testen bei hoher Momentanleistung und unzureichender bzw. nicht vorhandener Wärmesenke erfolgen kann.
Zum Whitepaper
Leistungsoptimierte DC-Messungen
In diesem Leitfaden werden Best Practices vorgestellt, mit denen Sie die Messgenauigkeit und die Produktqualität für Power Management ICs (PMICs), RF-Leistungsverstärker und weitere integrierte Schaltkreise verbessern können. Tauchen Sie tiefer in Themen wie die SMU-Betriebslehre, die Minimierung von Außengeräuschen und die Auswirkungen des Pulsens ein.
Hier finden Sie die vollständige Dokumentation zu einem Produkt, darunter Anleitungen und Bedienhinweise.
Hier können Sie verschiedene Supportinhalte durchsuchen, darunter Beispiele und Hinweise zur Problembehandlung.