Reduce test time, increase throughput, and meet today's manufacturing requirements by reducing a full rack to a few inches of physical space with up to 408 SMU channels in a single PXI chassis.
Digitally control the transient properties of PXI SMUs to maximize stability, reduce overshoot, and decrease test times with NI SourceAdapt, a patented technology on PXI SMUs that helps you avoid custom circuitry.
Operate beyond the basic DC power boundary of PXI SMUs by pulsing current or voltage instead of supplying a constant DC source, allowing you to test at high instantaneous power with limited or no heat sink infrastructure.
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Leistungsoptimierte DC-Messungen
In diesem Leitfaden werden Best Practices vorgestellt, mit denen Sie die Messgenauigkeit und die Produktqualität für Power Management ICs (PMICs), RF-Leistungsverstärker und weitere integrierte Schaltkreise verbessern können. Tauchen Sie tiefer in Themen wie die SMU-Betriebslehre, die Minimierung von Außengeräuschen und die Auswirkungen des Pulsens ein.
Hier finden Sie die vollständige Dokumentation zu einem Produkt, darunter Erste-Schritte-Anleitungen und Bedienhinweise.
Hier können Sie verschiedene Supportinhalte durchsuchen, darunter Beispiele und Hinweise zur Problembehandlung.