Erstellen eines multiprotokollfähigen Testsystems für Fertigungs- und Depot-Testapplikationen
Überblick
In diesem Video besprechen wir die Herausforderungen, die mit der Auswahl einer digitalen Avionik-Schnittstellenlösung für Fertigungs- und Depot-Testapplikationen verbunden sind. Insbesondere werden die großen Herausforderungen bei der Einbeziehung zahlreicher Protokolle in eine Teststation untersucht und beschrieben, wie die Skalierungsprobleme gelöst werden können.
Erstellen eines multiprotokollfähigen Testsystems für Fertigungs- und Depot-Testapplikationen
Nächste Schritte
- Mehr über Lösungen für digitale Avionikschnittstellen bei Fertigungs- und Depottests erfahren.
- Kosten und Risiken beim Einbinden digitaler Avionik-Schnittstellen in automatisierte Teststationen reduzieren.
- Leistung von FPGAs gegenüber herkömmlichen Plug-in-Karten für digitale Avionik-Schnittstellen vergleichen.