PXI-Schaltmodul für parametrische Tests

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Dient der Simulation von offenen, Pin-zu-Pin-, Kurzschluss-zu-Batterie- und Kurzschluss-zu-Masse-Fehlern für Hardware-in-the-Loop-Anwendungen und Zuverlässigkeitsprüfungen von elektronischen Komponenten.

PXI-Schaltmodule für parametrische Tests, auch bekannt als Fault Insertion Units (FIUs), bieten einen Satz Feedthrough-Kanäle, über die in geschlossenem Zustand die Schaltung für das System transparent wird. Die Kanäle können sich im Leerlauf befinden oder zur Simulation offener oder unterbrochener Verbindungen auf einen der zwei Fehlerbusse kurzgeschlossen werden sowie kanalweise für Kurzschlüsse zwischen Pins, zu Batteriespannungen und zu Masse genutzt werden. Bei einer Steuerung mit dem LabVIEW Real-Time Module kann mit dem PXI-Schaltmodul für parametrische Tests die Integrität von Steuer- und Regelungssystemen, wie z. B. ECUs und FADECs, validiert werden. Anwender können die FIU-Module ebenfalls für Hardware-in-the-Loop-Anwendungen und Zuverlässigkeitsprüfungen elektronischer Komponenten verwenden.