Pressemitteilung, 4. Juni 2019 – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seiner softwaredefinierten Plattform zu einer schnelleren Entwicklung leistungsstarker automatisierter Mess- und automatisierter Prüfsysteme bei. Das Unternehmen stellt heute eine Quad-Site-Lösung für den Packaging-Test von 5G-mmWave-ICs vor, die in Zusammenarbeit mit Tessolve und Johnstech entwickelt wurde.

Die Lösung adressiert die technischen Herausforderungen rund um den Packaging-Test von 5G-mmWave-ICs, indem sie für Halbleiterhersteller die Kosten und das Risiko einer verzögerten Markteinführung reduziert. NI, Tessolve und Johnstech haben gemeinsam eine Quad-Site-Lösung für den Packaging-Test von 5G-mmWave-ICs vorgestellt, die eine von Tessolve designte und gefertigte mmWave-Schnittstellenkarte und von Johnstech designte mmWave-Halbleiterkontakte für bis zu 100 GHz umfasst.

„Wir bei Tessolve sind uns der Bedeutung der 5G-Technologie bewusst und tätigen Investitionen, um unsere branchenführenden Kunden bei ihren Vorhaben zu unterstützen“, so Raja Manickam, CEO von Tessolve. „Wir pflegen eine enge Kooperation mit NI und arbeiten mit der NI-mmWave-Messtechnik, damit unsere Kunden ihre mmWave-Produkte schnell auf den Markt bringen können.“

Das NI Semiconductor Test System (STS) ist ein zentraler Baustein der Lösung. Teil der Produktdemonstration war eine Multi-Site-STS-Konfiguration für den mm-Wellen-Test, die für 5G-Leistungsverstärker, -Beamformer und -Transceiver ausgelegt ist. Ein bedeutender Vorteil der Lösung ist ihre Modularität, die das Wiederverwenden von Software und Basisband-/Zwischenfrequenz-Messgeräten mit modularen mmWave-Funkempfängern ermöglicht, sodass aktuelle wie auch künftig relevante Millimeterwellen-Frequenzbänder abgedeckt werden.

Merkmale der Testlösung:  
•    STS für den Quad-Site-Test von 5G-mmWave-ICs
•    mmWave-fähige Prüfschnittstellenkarte von Tessolve
•    Umfassende Kompetenz von Tessolve in Halbleiterdesign und -test für maximale Produktivität
•    mmWave-Halbleiterkontakte von Johnstech für die Endprüfung von Packaged Parts
•    Impedanzgesteuerter Testsockel von Johnstech mit IQtouch-Micro-Kontakten für wiederholbare Testmessungen

„Wir sehen das schnell wachsende Potenzial, das in der 5G-mmWave-Technologie steckt und sind mit unseren hochwertigen Halbleiterkontakten bereits an mehreren Projekten für Millimeterwellentests beteiligt gewesen“, so David Johnson, CEO von Johnstech. „Mit NI sehen wir noch mehr Möglichkeiten in diesem Bereich, besonders in der Fertigungsprüfung, für die NI leistungsfähige mmWave-Messtechnik für die Anforderungen von automatisierten Testsystemen bereitstellt.“

An der Lösung interessierte Halbleiterhersteller können sich an einen Vertriebsmitarbeiter der beteiligten Firmen wenden oder eine E-Mail an sts@ni.com senden, um weitere Informationen zu erhalten. Weitere Informationen zum STS sind auch unter ni.com/sts zu finden.