From Friday, April 19th (11:00 PM CDT) through Saturday, April 20th (2:00 PM CDT), 2024, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
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Der Kurs „Test Program Development with STS“ bietet ein praktisches Training für die Einrichtung und Verwendung eines „Semiconductor Test System“ (STS) zur Kommunikation mit einem Prüfling. Der Kurs folgt dem typischen Halbleitertest-Workflow und den dafür üblichen Etappen, wie etwa der engen Interaktion mit der entsprechenden Hardware. Nach Abschluss dieses Kurses ist ein Testingenieur in der Lage, STS-Testerressourcen interaktiv zu verwenden, um Testprogramme mit vorhandenen Codemodulen (entwickelt mit LabVIEW oder .NET/C#) zu erstellen, zu ändern, auszuführen und zu debuggen, wobei Testdaten und Testzeitreporte gesammelt werden.
Letztes Veröffentlichungsdatum oder Versionsnummer des Kurses: Auf Anfrage: 23,0
Auf Anforderung: 5 Stunden
Halbleitertestingenieure, die das NI Semiconductor Test System (STS) verwenden oder evaluieren, um Halbleiterproduktionstests oder automatisierte Gerätevalidierung in großen Stückzahlen durchzuführen.
Allgemeine Kenntnisse über Halbleitertestverfahren und -methoden
Grundlegende Computerkenntnisse
Grundkenntnisse des Testwesens
STS-Software-Bundle
Semiconductor Test System (STS)
Virtuelle Schulungen mit Kursleiter umfassen digitale Kursmaterialien, die über den Lernbereich von NI bereitgestellt werden.
Die virtuelle Schulung mit Kursleiter von NI wird über Zoom durchgeführt, und die Teilnehmer erhalten Zugang zu Amazon AppStream/LogMeIn, um die Übungen auf virtuellen Maschinen durchzuführen, die mit der neuesten Software ausgestattet sind.
Einrichten und Konfigurieren eines STS zum Testen eines Mischsignal-Halbleitergeräts.
Mit einem Prüfling kommunizieren.
Verwenden von STS-Testerressourcen zum interaktiven Erstellen, Ändern, Ausführen und Debuggen eines Testprogramms mithilfe fertiger Codemodule.
Beschreiben der Architektur des Testprogramms, Ändern und Konfigurieren des Ausführungsablaufs.
Fehlerbehandlung von Geräten, Signalen und Testsequenzen mithilfe von Fehlersuch-Panels.
Sammeln von Testdaten und Erstellen von Testberichten.
Benchmark-Testzeit.
| Lektion | Übersicht | Themen |
|---|---|---|
| Einführung in STS | Erkunden Sie die Hauptkonzepte des Halbleitertestsystems (STS). |
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| Erkunden des Testkopfs | Erkunden Sie die High-Level-Funktionen und E/A für den STS-Testkopf. |
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| Erkunden von Lastplatinen | Entdecken Sie die High-Level-Funktionen des Device Interface Boards (DIB) und der verschiedenen Lastplatinen-Schnittstellentypen. |
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| Andocken und Verbinden mit dem STS | Beschreibung der Topologie einer typischen Testzelle und erkunden der verschiedenen Optionen zum Andocken eines STS. |
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| Kennenlernen der NI STS-Software | Lernen Sie die Softwaretools zum Überwachen, Warten, Debuggen und Kalibrieren des STS sowie der Testentwicklungs- und Codemodul-Entwicklungsumgebung für STS kennen. |
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| Navigieren im Testentwickler-Workflow | Sehen Sie sich ein Beispiel für einen Testentwickler-Workflow und die wichtigsten Schritte an. |
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| Untersuchung von STS-Sicherheitsanforderungen und -spezifikationen | Informieren Sie sich über die Sicherheitsanforderungen und -spezifikationen, die Sicherheitskonformität und die Umgebungsspezifikationen des STS-Systems und wenden Sie sie an. |
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Erkunden der Tester-Instrumentierung | Erkunden der STS PXI-Plattform und gängiger STS-Instrumente. |
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| Untersuchen der Systemspezifikationen | Erkunden der Eingangs- und Ausgangsspezifikationen für STS T1, T2 und T4. |
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| Kalibrieren eines STS | Erkunden der Kalibrierungsmodule und der im STS-System verwendeten Kalibrierungsarten. |
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| Erstellen eines STS-Projekts | Erstellen eines Testprogramms und erkunden der Sequenzdatei und der Ordnerstruktur, die für das Testprogramm erstellt wurden. |
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| Erkunden von Pin-Maps | Erkunden des Zweck der Pin-Map und ihrer Rolle bei der Zuordnung von STS-Hardware zu Prüfling-Pins. |
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| Überprüfen einer Testerkonfiguration und eines Lastplatinen-Schaltplans | Erkunden der Standardtesterdokumentation, deren Inhalt und Zweck. |
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| Abbildung von Messanforderungen | Zuordnen der Messanforderungen, um sicherzustellen, dass das System und seine ausgestatteten Instrumente die Messanforderungen im Testplan erfüllen können. |
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| Zuordnen von Prüfling-Pins zu Instrumentenkanälen | Verwenden des Pin-Map-Editors, um Pin-Map-Dateien zu erstellen und zu ändern, die Prüfling-Pins Instrumentenkanälen zuordnen. |
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| Verbinden mit dem Prüfling über das Device Interface Board | Erkunden der verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Ihre Instrumente an ein Device Interface Board (DIB) anschließen können, und Identifizieren der verfügbaren Ressourcen, um Sie beim Entwerfen Ihrer eigenen Lastplatinen zu unterstützen. |
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| Prüfen des Prüfling-Durchgangs | Verwenden des Digital Pattern Instruments, um den Prüfling auf Durchgang zu testen, bevor Sie andere Tests ausführen. |
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| Inbetriebnahme des Prüflings | Verwenden des Digital Pattern Editor, um das zu testende Gerät (Prüfling) in Betrieb zu nehmen, damit Sie mit dem Testen beginnen können. |
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| Messung des Ableitstroms | Verwenden des Digital Pattern Instruments, um den Ableitstrom für den Prüfling zu messen, bevor Sie andere Tests durchführen. |
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| Vorbereiten der Kommunikation mit dem Prüfling | Identifizieren der einem digitalen Projekt zugeordneten Dateitypen und beschreiben der Dateien, die erstellt werden sollten, bevor ein digitales Muster für die Kommunikation mit dem Prüfling erstellt wird. |
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| Erstellen einfacher Digitalmuster zur Kommunikation mit dem Prüfling | Erstellen, bearbeiten, laden und bündeln grundlegender digitaler Muster, um mit dem Prüfling unter Verwendung des Digitalmuster-Editors zu kommunizieren |
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| Konvertieren vorhandener Digitalmuster | Konvertieren von Mustern, die in anderen Umgebungen entwickelt wurden, zur Verwendung im Digitalmuster-Editor. |
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| Untersuchung der Testsequenzdatei | Erkunden der Hauptkomponenten einer Testsequenzdatei und wie jede Komponente verwendet wird. |
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| Hinzufügen von Schritten zu einer Testsequenz | Erfahren, wie Schritte in eine Testsequenz eingefügt werden können. |
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| Testschritte erstellen und konfigurieren | Erstellen und Konfigurieren von Testschritten, die Codemodule aufrufen, in einem STS-Projekt. |
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| Verwenden von Testschrittvorlagen | Erkunden der verschiedenen verfügbaren Schrittvorlagen und deren Verwendung als Teil einer Testsequenz. |
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| Steuern der TestStand-Ausführung | Führen Sie eine Testsequenz aus und ändern Sie die Testsequenz so, dass sie je nach Testbedingungen oder -einstellungen unterschiedlich ausgeführt wird. |
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| Festlegen von Testgrenzwerten | Erstellen, erkunden und importieren Sie Testgrenzwerte, um Ihre Testsequenzen für verschiedene Szenarien schnell zu aktualisieren. |
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| Erstellen von Testkonfigurationen | Verwenden Sie den Testprogramm-Editor und Ihre Testanforderungen, um Testkonfigurationen für Ihr System zu erstellen. |
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| Binning von Prüflingen basierend auf Testergebnissen | Erkunden Sie die verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Prüflinge basierend auf den Testergebnissen kategorisieren und eine Binning-Strategie implementieren können. |
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| Konfigurieren der Ausführung eines Testprogramms | Konfigurieren und Ausführen eines Testprogramms in der Testentwicklungsumgebung. |
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| Erstellen von Testberichten | Implementieren einer Ergebnissammlungs- und Testberichtsstrategie in TestStand von NI. |
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| Fehlerbehandlung eines Testprogramms | Verwenden Sie die integrierten TestStand-Funktionen, um Probleme in einer Testsequenz zu identifizieren und zu beheben. |
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| Fehlerbehandlung-Szenarien erkunden | Behandeln Sie Fehler eines Testprogramms in verschiedenen unerwarteten Situationen. |
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| Benchmarking der Testzeit | Identifizieren und beheben Sie Probleme, die die Codeausführungsgeschwindigkeit einschränken. |
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| Interaktion mit Testerressourcen zur Fehlerbehandlung von Problemen | Verwenden Sie InstrumentStudio, um mit Testerressourcen zu interagieren, um Testprobleme zu beheben. |
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| Einsatz des Digitalmuster-Editors zur Fehlerbehandlung | Verwenden Sie Werkzeuge im Digital Pattern Editor (DPE), um Testfehler weiter zu behandeln. |
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| Ausführen einer Sequenz mit der STS-Bedienoberfläche | Führen Sie ein Testprogramm mit der NI Halbleitertest-Bedienoberfläche (OI) aus und erhalten Sie die wahre Buchsenzeit. |
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