Toolkit zur Analyse von A/D-Wandler-Testdaten

Project Integration, LLC

Das Toolkit zur Analyse von A/D-Wandler-Testdaten hilft Ihnen bei der Analyse von Ausgangstestsignalen von A/D-Wandlern.

Das Toolkit zur Analyse von A/D-Wandler-Testdaten (TDA) ist ein Software-Zusatzpaket für LabVIEW. Mit diesem Zusatzpaket können Sie Software-Zusatzpakete für automatisierte Tests von A/D-Wandlern und Charakterisierungssystemen zur Verwendung in automatischen Testsystemen (ATE-Systemen) für F&E- und Produktionstestzwecke entwickeln. Das Zusatzpaket hilft Ihnen bei der Analyse von DC-, parametrischen, statischen, dynamischen und zeitlichen Parametern eines A/D-Wandlers. Das TDA-Toolkit bietet Unterstützung für mehrere Standorte des Halbleiterprüfsystems (Semiconductor Test System, STS) und ist mit dem Standard IEEE Std 1241 ™-2010 kompatibel.