Startseite Produkte Elektronische Prüfsysteme und -geräte Was ist das parametrische Testsystem (PTS)?

Was ist das parametrische Testsystem (PTS)?

PTS – 48 Kanäle

NI PTS ist ein flexibles parametrisches Halbleitertestsystem mit hohem Durchsatz, das auf der PXI-Plattform von NI basiert. Durch die branchenführende Kanaldichte, Parallelität und Messgeschwindigkeit hilft das PTS Benutzern, schnellere Einblicke in die Prozessqualifizierungsdaten von Halbleitern zu erhalten.

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Warum sollten Sie sich für parametrische Tests von NI entscheiden?

Verkürzung der Zeit für Parametertests

NI PTS bietet bis zu 48 diskrete Kanäle mit Hochleistungsmessgeräten, damit Sie den Testdurchsatz maximieren und die Zeit bis zum Erzielen aussagekräftiger Datenergebnisse verkürzen können. Diese massive Parallelität und die per-Pin-Architektur kommt ohne Schaltmatrix aus, was die Signalintegrität schützt und eine herausragende Messleistung gewährleistet.

Passen Sie Ihr System bei Bedarf an

Mit unserer modularen PXI-Plattform lassen sich Systeme einfach skalieren und an sich ständig ändernde Anforderungen anpassen.  NI bietet PTS-Upgrade- und -Erweiterungskits an, mit denen Sie Ihre Systeme problemlos anpassen können, wenn sich Ihre Anforderungen ändern. Darüber hinaus wird die Unterstützung für PTS-Geräte von NI im Laufe der Zeit zunehmen, sodass unsere Benutzer Module hinzufügen können, ohne ein völlig neues System kaufen zu müssen.

Wählen Sie die für Sie geeignete Option aus

48 Kanäle

PTS-48

  • Maximalkonfiguration 

  • 48 Kanäle mit SMU-Präzisionsinstrumentierung 

  • Beste Wahl für maximale Nutzung der per-Pin-Parallelität

32 Kanäle

PTS-32

  • Mittlere Konfiguration

  • 32 Kanäle mit SMU-Präzisionsinstrumentierung

  • Upgrade-Kit auf 48 Kanäle verfügbar

16 Kanäle

PTS-16

  • Basiskonfiguration

  • 16 Kanäle mit SMU-Präzisionsinstrumentierung

  • Upgrade-Kit auf 32 Kanäle verfügbar

  • Bester Einstiegspunkt mit Upgrade-Option 

Sprechen wir über andere parametrische Testoptionen

Wenn eine Standardkonfiguration für PTS von NI Ihre Anforderungen nicht erfüllt, setzen Sie sich mit uns in Verbindung. Wir können das breite Portfolio an Messgeräten unserer PXI-Plattform nutzen, um Sie bei der Entwicklung eines Systems zu unterstützen, das genau Ihren Anforderungen entspricht. 

Parametrische Testsoftware für Zuverlässigkeit

WLR Test Software

Soft-Frontpanel für WLR-Tests

Die Software zum Testen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Level (Wafer-Level Reliability, WLR) nutzt das PTS von NI für Zuverlässigkeitstests auf Wafer-Level und vereinfacht die Durchführung von JEDEC-konformen Stresstests wie TDDB, HCI, BTI und mehr – ganz ohne Programmieraufwand.  Diese Software bietet außerdem LabVIEW-, C#- und Python-APIs für kundenspezifische Anwendungsfälle.

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Ressourcen für den Produktsupport

Dokumentation zu parametrischen Testsystemen

In unserer PTS-Dokumentation erfahren Sie alles, was Sie wissen müssen: von der Systemübersicht über die Inbetriebnahme bis hin zur Wartung und zu bewährten Methoden.

 

PTS-Dokumentation

Spezifikationen der PXIe-4135-SMU

Unser PTS wird von der präzisen Source Measure Unit 4135 von NI unterstützt.

 

Spezifikationen der PXIe-4135-SMU

Spezifikationen des PXIe-1095-Chassis

Das Rückgrat des PTS bildet das leistungsstarke PXIe-1095-Chassis von NI.

 

Spezifikationen des PXIe-1095-Chassis