Parametrische Tests auf Wafer-Level​

Ingenieure für Wafer-Level-Tests sehen sich damit konfrontiert, ihre Prüfzeiten zu reduzieren, ohne dabei die Genauigkeit und Qualität von Messungen zu beeinträchtigen.

Ein intelligenterer Ansatz für parametrische Tests auf Wafer-Level

Die Hersteller von integrierten Schaltkreisen (Integrated Circuit, IC) führen ständig neue, innovative Prozesse ein und arbeiten auf immer kleinere Bauelementabmessungen hin, wobei sie sicherstellen müssen, dass die steigende Komplexität keine negativen Auswirkungen auf die langfristige Zuverlässigkeit ihrer ICs hat. Da sich Technologien rasch weiterentwickeln, müssen Halbleiterhersteller mehr Daten von Zuverlässigkeitstests erfassen und analysieren, während sie die Testkosten senken. Ingenieure können diese Herausforderung häufig nicht mithilfe herkömmlicher Systemlösungen bewältigen und setzen daher mehr und mehr auf modulare, anpassbare Lösungen, die den wechselnden Anforderungen gewachsen sind.

Broschüre zur Halbleiterprüfung​

Erfahren Sie, wie Sie Ihre Prüfkosten durch einen plattformbasierten Ansatz für die Halbleiterprüfung senken können.

Im Fokus​

Produkte und Lösungen​

NI Partner Network

Das NI Partner Network ist ein weltweiter Zusammenschluss von Experten für die Entwicklung von Domänen, Anwendungen und Tests im Allgemeinen, die eng mit NI zusammenarbeiten, um den Anforderungen der technischen Fachwelt gerecht zu werden. NI-Partner sind zuverlässige Anbieter von Produktlösungen, Systemintegratoren, Berater, Produktentwickler sowie Experten für Dienstleistungen und Vertriebskanäle, die über Erfahrungen in einer Vielzahl von Branchen und Anwendungsbereichen verfügen.

ANWENDUNGSRESSOURCEN


PXI Resource Kit​

Erlernen Sie die Grundlagen der PXI-Plattform für die Halbleitercharakterisierung anhand von Hinweisen zur Systemarchitektur, anwendungsbezogenen Kundenlösungen und Leistungskennzahlen.