電源​管理 IC (PMIC) 測試

工程師​所​設計​的​電源​管理 IC (PMIC) 測試​解決​方案​不僅​要​因應​未來​技術​需求,​還得​降低​整體​成本。

Semiconductor companies are using National Instruments solutions for validation, characterization, and test of power management ICs (PMIC).

NI 專業​知識​概觀

半導體​技術​日新月異,​因此​必須​持續​開發​昂貴​的​獨立​測試​設備,​然而​隨著​科技​不斷​演進,​這些​設備​很快​便會​遭到​淘汰。​對於​需要​降低 PMIC 測試​系統​成本、​體積​與​佔用​空間​的​企業​而言,​兼顧​上述​種種​需求​絕非​易​事。 ​ ​NI 的 PXI 架構​系統​包含​高效能​的​電源​量​測​單元 (SMU)、​示波器、​任意​波形​產生器​與​數位​儀器,​能​滿足 PMIC 檢驗、​特性​參數​描述​與​生產​測試​上​的​多種 AC 與 DC 量​測​需求。​只要​靈活運用​這些​模組化 PXI 解決​方案,​工程師​就​能​升級​特定​軟​硬體​元件​來​因應​日後​所需,​而​不必​投注​大​筆​資金​更換​整個​系統。

焦點​內容

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.
A single National Instruments source measure unit can replace traditional power supplies and DMMs
Texas Instruments reduces PMIC test times from weeks to days with an automated system based on PXI SMUs

產品​與​解決​方案

應用​資源​組合


PXI 101

了解​適用於​自動化​測試​的 PXI 標準​平台​基本​原理。