首頁 創新 半導體 電源​管理 IC (PMIC) 測試

電源​管理 IC (PMIC) 測試

工程師​所​設計​的​電源​管理 IC (PMIC) 測試​解決​方案​不僅​要​因應​未來​技術​需求，​還得​降低​整體​成本。

Semiconductor companies are using National Instruments solutions for validation, characterization, and test of power management ICs (PMIC).

NI 專業​知識​概觀

半導體​技術​日新月異，​因此​必須​持續​開發​昂貴​的​獨立​測試​設備，​然而​隨著​科技​不斷​演進，​這些​設備​很快​便會​遭到​淘汰。​對於​需要​降低 PMIC 測試​系統​成本、​體積​與​佔用​空間​的​企業​而言，​兼顧​上述​種種​需求​絕非​易​事。 ​ ​NI 的 PXI 架構​系統​包含​高效能​的​電源​量​測​單元 (SMU)、​示波器、​任意​波形​產生器​與​數位​儀器，​能​滿足 PMIC 檢驗、​特性​參數​描述​與​生產​測試​上​的​多種 AC 與 DC 量​測​需求。​只要​靈活運用​這些​模組化 PXI 解決​方案，​工程師​就​能​升級​特定​軟​硬體​元件​來​因應​日後​所需，​而​不必​投注​大​筆​資金​更換​整個​系統。

焦點​內容

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.

NI SMU 兼具​速度​與​精確度，​可​執行​過去​需​仰賴​電源​供應​器、​多功能​數位​電錶 (DMM) 與​示波器​才能​完成​的​標準 PMIC 測試。

A single National Instruments source measure unit can replace traditional power supplies and DMMs

SMU 提供​多種​半導體​測試​功能，​包含​精確​的​電壓​與​電流​量​測、​遠端​感​測​與​四​象限​輸出。

Texas Instruments reduces PMIC test times from weeks to days with an automated system based on PXI SMUs

德州​儀器 (TI) 使用 PXI SMU 與 TestStand 軟體​提升 PMIC 測試​傳輸​速率、​涵​蓋​範圍​與​穩定性，​同時​將​整體​測試​時間​從​數​週​縮短​為數​日。

產品​與​解決​方案

應用​資源​組合

PXI 101

了解​適用於​自動化​測試​的 PXI 標準​平台​基本​原理。