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半導體

以​傳統​方式​進行​類比、​混合​訊號​與 RF 測試​時​的​測試​範圍，​通常​無法​滿足​半導體​技術​的​需求。​半導體​測試​工程師​需要​透過​更​智慧​化​的​解決​方案，​因應​成本、​擴充​能力、​設計​與​裝置​挑戰。

應用

靈活​的​半導體​測試​解決​方案

我們​使用​的​裝置​日益​智慧​化，​同時​也​更​驅​向​軟體​中心。​而​替​智慧型​裝置​供電​的​半導體​產業​正​經歷​一場​轉型，​包含 IC 設計​與​製造​方式，​以及​測試​方法。​無論​智慧型​裝置​類型​為何，​其​商業​動​能​皆​相同。​IC 製造商​必須​提供​更多​整合​功能、​確認​關鍵​應用​具備​極高​穩定性、​保持​極佳​成本​競爭力，​並​盡力​縮短​產品​上市​時間​以​滿足​嚴苛​的​設計​時程。​NI 提供​更​具​智慧​效能​的​測試​解決​方案，​從​實驗室​到​生產線，​皆​能​滿足 IC 製造商​的​商務​需求。

焦點​內容

Integrated Device Technology 使用 STS 測試​一系列​裝置​類型，​同時​保有​高​測試​效能​與​擴充性，​以​符合​將來​的​效能​需求。

設定 LabVIEW 與 PXI 以​開發 MEMS 測試​系統，​相較​於​前​一代​生產​自動化​測試​設備，​可​降低 11 倍​資本​設備​成本。

利用 PXI 將​行動​電話​功率放大器​的​特性​化​時間​從 2 週​縮短​為 1 天，​而且​無須​犧牲​量​測​品質，​也​未​增加​資金​成本。

寬頻 5G 裝置​測試​的 5 大​挑戰

 

開發​寬頻 5G 裝置​的​設計​人員​與​測試​工程師，​需要​準確、​快速​且​符合​成本​效益​的​測試​解決​方案，​以​確保​新​晶片​設計​可靠​無虞。​歡迎​了解​寬頻 5G IC 測試​的​主要​測試​挑戰​與​解決​方案。

 

大幅​提升 DC 量​測​效能​的 5 項​最佳​做法


無論​您要​測試​電源​管理 IC 或 RF 功率放大器，​進行​高​品質​的 DC 量​測​作業​都是​測試​半導體​晶片​時​的​基礎​所在。​請​利用​下列​基本​最佳​做法，​提升​量​測​準確度​與​產品​品質。