半導體

傳統 ATE 針對​類比、​混合​訊號​與 RF 測試​的​測試​範圍​通常​無法​滿足​半導體​技術​的​需求。​半導體​工程師​需要​可​擴充​的​解決​方案​來​解決​成本、​設計​與​裝置​上​的​難題。

NI 技術​的​優勢

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測試​成本​更低

特性​測試​與​生產​測試​的​平台​式​方案​可​針對 RF 與​混合​訊號​測試,​提供​最佳​成本​效益、​高效能​的​測試​解決​方案。

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測試​速度​更快

NI 半導體​測試​的​客戶​表示,​其​測試​速度​提高​了 10 倍,​且​同時​滿足​了​量​測​與​效能​需求。

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量​測​更​準確

NI 產品​具備​領先​業界​的​量​測​準確度、​並​提供​校準​與​系統​服務,​藉此​確保​效能​持久性。

應用

焦點​內容

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