半導體

適用於​類比、​混合​式​訊號​與 RF 測試​的​傳統 ATE,​往往​無法​跟上​半導體​技術​的​最新​需求。​半導體​測試​工程師​需要​透過​更​聰明​的​解決​方案,​來​因應​成本、​擴充性、​設計​與​裝置​挑戰。

NI 解決​方案​的​優勢

更低​的​測試​成本

平台​架構​方案​可​因應​從​特性​參數​描述​到​生產​的​各項​需求,​並​針對 RF 與​混合​式​訊號​測試,​提供​最​符合​成本​效益​與​高效能​的​測試​解決​方案。

更​快​的​測試​速度

NI 半導體​測試​的​客戶​表示:​測試​速度​提升​了 10 倍,​同時​又能​滿足​量​測​與​效能​需求。

更​準確​的​量測

透過​校準​與​系統​服務,​NI 產品​提供​領先​業界​的​量​測​準確度,​並​以此​確保​長期​效能。

應用

焦點​內容

The PXI-based NI Semiconductor Test System (STS) combines modular instrumentation and system design software for RF and mixed-signal production test.
Smarter Devices Require Smarter Test Systems
Find out how PXI digital pattern instruments bring semiconductor ATE digital capability to the open PXI platform.