射频​集成​电路​(RFIC)​测试

随着​无线​技术​的​增加​和​产品​上市​时间​的​日益​缩短,​工程​师​需要​采用​一种​更​高效​和​灵活​的​RFIC​测试​方法。

Media Feature

NI​专业​技术​概览

人们​对​LTE Advanced Pro、​5G​和​802.11 ax​等​新​无线​标准​的​需求,​带给​当今​的​工程​师​新的​测试​挑战。 这些​标准​加上​包​络​跟踪​(ET)​和​数字​预​失真​(DPD)​等​新兴​技术,​使得​在​保证​准确​性​和​不​增加​成本​前提​下,​减少​测试​时间​以及​提高​吞吐量​变得​更加​困难。 NI​基于​PXI​的​测试​解决​方案​将​RF​测量​与​混合​信号​仪器​相​结合,​为​RF​功率放大器​(PA)、​RF​前端​模​块、​收​发​仪​和​集成​模​块​等​的​批量​生产​测试​提供​完整​的​解决​方案。 NI PXI​解决​方案​可用​满足​从​特性​分析​到​最终​生产​测试​等​不同​阶段​的​需求,​帮助​用户​降低​测试​成本​以及​缩短​产品​上市​时间。

内容​推荐

Categorical Image
Categorical Image
Categorical Image

产品​和​解决​方案

Higlight Image

NI​联盟​伙伴​网络

NI​联盟​伙伴​网络​囊括​了​全球​950​多​家​独立​的​第三​方​公司,​旨​在​为​工程​师​提供​完整​的​解决​方案。​从​产品​和​系统​到​集成、​咨询​和​培训​服务,​NI​联盟​伙伴​都可​通过​独一无二​的​产品​和​技术​来​帮助​用户​应对​当前​一些​最为​严峻​的​工程​挑战。

应用​资源包


借助​PXI,​克服​常见​测试​挑战

无线​连接​的​迅速​发展​驱动​消费​者​不断​期望​更高​的​数据​吞吐量​和​更​短​的​产品​上市​时间。 了解​无线​测试​挑战,​以及​NI PXI​仪器​如何​满足​特性​分析​和​生产​测试​环境​的​这些​需求。