半导体

对于​模拟、​混合​信号​和​RF​测试,​传统​ATE​的​测试​覆盖​范围​往往​无法​跟上​半导体​技术​需求​变化​的​脚步。​半导体​工程​师​需要​可​扩展​的​解决​方案​来​应对​成本、​设计​和​器件​挑战。

NI​解决​方案​的​优势

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降低​测试​成本

一个​适用​于​从​特性​分析​到​生产​的​平台​方法,​为​RF​和​混合​信号​测试​提供​了​更​低成本​的​高性能​测试​解决​方案。

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更​快速​的​测试

NI​半导体​测试​客户​反映:​在​满足​测量​和​性能​要求​的​同时,​测试​时间​缩短​了​10​倍。

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更​精准​的​测量

NI​产品​提供​了​业界​领先​的​测量​精度,​并​通过​NI​校准​和​系统​服务​来​确保​精度​的​长期​有效性。

应用

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