Éducation Société Événements NI Developer Zone Support Solutions Produits et Services Contacter NI MyNI

Apprenez à réduire les coûts de test lors du 5ème Automated Test Summit, un événement virtuel mondial. Les acteurs majeurs du test et de la mesure prendront part à cet événement technologique virtuel, organisé par National Instruments chaque année, pour partager leurs savoir-faire techniques et leurs expériences. En participant à cet événement en ligne, vous pourrez assister aux présentations, discuter avec les exposants tout en profitant de l'atmosphère dynamique d'une conférence traditionnelle, sans avoir à quitter votre bureau.

  • Entièrement en ligne
  • Participation gratuite
  • Conférences stratégiques, sessions techniques interactives et ateliers en direct
  • Forums de Questions-Réponses
  • Stands virtuels avec ressources techniques et experts disponibles

Choisissez l'horaire selon vos convenances :

Événement virtuel en ligne : assistez à cette conférence confortablement assis devant votre ordinateur.
Connectez-vous le 5 juin 2008

Paris : 11 h 00 - 18 h 00 (GMT + 2)
Londres : 10 h 00 - 17 h 00 (GMT + 1)
Austin :
11 h 00 - 18 h 00 (GMT - 5)
Bangalore : 07 h 30 - 14 h 30 (GMT + 5,5)
Shanghaï et Singapour : 10 h 00 - 17 h 00 (GMT + 8)
Sydney : 12 h 00 - 19 h 00 (GMT +10)

GMT : temps moyen de Greenwich

Inscrivez-vous dès maintenant à l'Automated Test Summit 2008

Invitez un ami

Sessions de conférence

Présentation stratégique :
Optimisation de l'efficacité en matière de test

Les thèmes des sessions incluent :
La réduction des coûts de développement de logiciels
Dernières tendances en conception de matériels
Extrension de la durée de vie des systèmes de test
Table ronde sur l'ingénierie de test

Voir le planning complet

Partenaires presse

Sponsors