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歪み計測

ナショナルインスツルメンツでは、簡単で安全性の高いWi-Fiデバイスから、多チャンネルのラックマウント式システムまで、多彩な歪み計測ソリューションをご用意しています。PXIやNI CompactDAQなどのモジュール式プラットフォームを利用すると、歪み計測に様々なI/Oを統合することができます。NIでは、歪み計測を研究室で行う場合にも遠隔地で行う場合にも、お客様のアプリケーションに最適な計測プラットフォームをご用意しています。データをディスクにすばやく記録するためのソフトウェアや、複雑なシステムアーキテクチャ向けのプログラミング環境などのオプションを提供しています。NIのモジュール式ハードウェアと柔軟性に優れたソフトウェアを使用すれば、アプリケーション特有のニーズにも対応できる歪み計測システムを構築することができます。

歪みセンサと計測デバイスの選定

歪みゲージは、圧力、負荷、トルクなど、構造テストや監視アプリケーションで使用される様々なタイプのトランスデューサの構成ブロックとなる基本のセンシングデバイスです。歪みゲージは一般的なセンサですが、調節を行って信頼性の高いデータを集録するには、非常に難度の高いセンサの1つです。ナショナルインスツルメンツでは、歪みゲージやブリッジベースのセンサ計測を実行するためのデバイスを各種ご用意しています。

ハウツーガイド/チュートリアル

一般的なセンサ・信号計測に関する情報を提供するハウツーガイドをご覧いただけます。以下のドキュメントは、それぞれの信号/センサの動作原理を紹介し、そのようなタイプの計測の実施方法について解説するもので、計測を迅速に行うためのノウハウの理解に役立つ資料となっています。

モジュール式のポータブル歪み計測

NI CompactDAQを使用すると、モジュール式のポータブルソリューションによる歪み計測が可能となります。NI CompactDAQプラットフォームでは、モジュールあたり最大8、シャーシあたりでは64の歪みチャンネルが利用できます。シャーシは、データをUSB、Ethernet、またはワイヤレス経由で転送します。

  • NI CシリーズI/Oモジュールであらゆるタイプのセンサから計測を実行
  • 複数の集録レートに対応する複数のタイミングエンジン
  • NI-STC3技術に基づく高度なカウンタ機能

モジュール式システムを利用した歪み計測の詳細情報

拡張可能なモジュール式高確度歪み計測

PXIプラットフォームでは、シャーシ、コントローラ、モジュールを多彩にご用意していますので、お客様のアプリケーションのニーズに合った計測システムを構築することができます。NI SC Express歪みモジュールは、最大102.4 kS/秒で0.02パーセントの確度を実現できます。PXIは数千に及ぶ歪み/ブリッジベースの計測チャンネルをより大規模なアプリケーションに拡張することができるほか、有線と無線両方の同期オプションを提供します。

  • 構成可能なデスクトップ、ラックマウント式、および分散型マルチシャーシソリューション
  • 広範なセンサやトランスデューサに対応
  • CAN、ビジョン、モーション、GPSなど、1,500種類を超えるPXIモジュールが利用可能

仕様と価格はこちら

 

組込データロギング歪み計測

NICompactRIO組込データロギングシステムは、堅牢なスタンドアロン型ロギングソリューションを必要とする様々な工業用/車載ロギングアプリケーションに最適です。当社のデータロガーは、スタンドアロン操作を可能にする組込リアルタイムコントローラ、堅牢なシャーシ、そしてあらゆるアナログ/デジタルセンサとの接続が可能な多彩なI/Oモジュールで構成されています。

  • NI CシリーズI/Oモジュールであらゆるタイプのセンサから計測を実行
  • FPGA(field-programmable gate array)を搭載した様々なリアルタイムコントローラや再構成可能シャーシから選んで、カスタムタイミング、解析、制御を実現できます。4スロットと8スロットのオプションがあります。
  • 小型で堅牢性に優れたオープンな組込アーキテクチャ

組込データロギングシステムを構成する

 

歪み計測にNI製品を使用するメリット

  • 抵抗箔歪みゲージおよびブリッジベースセンサの統合された信号調節・接続機能により、計測の確度と性能を最大限に向上
  • 同じソフトウェアAPIで1チャンネルから数千チャンネルまで計測の拡張が可能な計測プラットフォームを幅広く提供
  • NIの計測ハードウェアをカスタマイズして歪み計測アプリケーション特有の要件を満たすことができる柔軟な仮想計測システム
  • 光ファイバーグレーティング(FBG)光学歪みゲージの計測機能により、過酷な環境要件への対応や長距離間でのリモート計測などが可能となります。


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