Знакомьтесь: Semiconductor Test System (STS)

STS - это ATE для полупроводниковых и ВЧ приборов с сигналами различной природы, готовый к применению на производстве, которое сокращает время выхода на рынок и снижает стоимость тестирования.

Улучшенное тестирование полупроводниковых устройств с сигналами различной природы и ВЧ

Оптимизированная для производительности, STS имеет унифицированную программную архитектуру, которая ускоряет процесс разработки, отладки и развертывания программ тестирования с помощью интуитивно понятного интерактивного ПО, мощного ПО для управления тестированием и предварительно созданных примеров с поддержкой drag-and-drop для распространенных действий с полупроводниковыми приборами. STS готова к работе в составе испытательного стенда с поддержкой манипуляторов, устройств подачи, зондов для полупроводниковых пластин и стандартных подпружиненных контактов, которая позволяет легко переносить платы нагрузок и программы для тестирования. В дополнение к самому решению NI предлагает услуги по инжинирингу, шеф-монтажу оборудования, а также обучение и поддержку.

Основные преимущества

  • Широкая линейка аппаратуры для измерения ВЧ, цифровых сигналов и сигналов постоянного тока. - Вы можете изменять масштаб конфигурации STS, чтобы добавить ресурсы измерительной аппаратуры, необходимые для тестирования устройств с ВЧ-сигналами и сигналами различной природы.

  • Единая местодика работы ПО - STS предлагает стандартное ПО для разработки, отладки и развертывания программ тестирования для нескольких объектов, включая сопоставление выводов/каналов, импорт/экспорт условий испытания, биннинг и отчеты STDF.

  • Готовый код тестирования. - Вы можете использовать drag-and-drop шаблоны ПО для распространенных операций тестирования полупроводниковых устройств, таких как генерация и сбор ВЧ-сигналов, проверка целостности, тесты на утечку или генерация цифровых последовательностей.
  • Интеграция тестовых стендов - Стандартная инфраструктура стыковки и сопряжения обеспечивает непрерывную интеграцию с манипуляторами, оснастками изделий для пакетного тестирования и зондами для тестирования полупроводниковых пластин.

  • Калибровка системы - вы можете откалибровать блоки, работающие с цифровыми данными, постоянным током и ВЧ сигналами для работы с пружинными зондами или зажимными ВЧ-контактами.

  • Услуги и поддержка. - Услуги по инжинирингу, шеф-монтажу, обучению и технической поддержке помогут Вам быстро приступить к работе.

Решение какого рода Вас интересует?

группы ВЧ-чипов

Производители чипов для беспроводной связи знают, что при оценке решений по тестированию критическими являются давление условий времени выхода на рынок и пропускной способности тестирования на производстве. Для ВЧ-усилителей мощности (PA) и ВЧ-модулей STS обеспечивает по этим показателям значительные преимущества по сравнению с традиционными вариантами ATE. Активное участие NI в решении лабораторных задач означает большой опыт работы с новейшими стандартами беспроводной связи, такими как 5G NR. NI предлагает значительное число готовых алгоритмов и передовую аппаратуру наряду с лидирующей в отрасли пропускной способностью. Это может помочь Вам ускорить процесс разработки и развертывания тестов на производстве.

Основные характеристики

 

  • Лучшая в отрасли полоса 1 ГГц для сложных ВЧ-измерений
  • Поддержка беспроводных стандартов, включая GSM, TD SCDMA, WCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR и 802.11a/b/g/n/ac/ax
  • До 48 двунаправленных ВЧ-портов с возможностью тестирования S-параметров
  • SPI, MIPI и специализированная библиотека цифровой связи для ВЧ-модулей (FEM)
  • Возможность работы с ВЧ-трактом высокой мощности - до +40 дБм
  • Возможность измерения гармоник - до 18 ГГц
  • Возможность измерения коэффициента шума - с Y-фактором и поддержкой холодного источника

"A few of our other business units have already adopted STS, and it was some of their recommendations that first convinced our RF business unit to try it out for this Massive MIMO application. I’m very pleased by the progress, of course; in manufacturing, throughput is everything. Higher throughput means more devices shipped to our customers faster, which fundamentally means business results."

David Reed, Executive Vice President of Global Operations, NXP

Устройства IoT

Производители полупроводниковых микросхем знают, что появление Интернета вещей (IoT) привело к увеличению разнообразия и количества полупроводниковых устройств IoT с оптимальной ценой, которая может быть трудно достижима с помощью традиционных решений ATE. Для устройств IoT со стандартами связи, такими как Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi и ZigBee, основанных на микроконтроллерах, STS предоставляет гибкую платформу для тестирования на производстве, которая может быть масштабирована или в сторону увеличения в соответствии с растущими объемами производства, или в сторону уменьшения в соответствии с ограничениями бюджета.

Основные характеристики

 

  • Лучшая в отрасли полоса 1 ГГц для сложных ВЧ-измерений 
  • Поддержка стандартов беспроводной связи, таких как Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi и ZigBee. 
  • Дополнительные средства ввода и вывода звука 
  • Дополнительные средства генерации и захвата высокочастотных сигналов

"When NI introduced STS, it was an obvious choice. Why wouldn’t we do it? It married PXI with ATE, which is exactly what we needed . . . We were able to save $60,000 per month and achieve a full return on our investment in less than two years. We increased our test coverage and improved our quality. Furthermore, because of the longevity of the PXI platform and the stability of NI, we are confident that we are investing in a platform that will be around for many years to come."

Warren Latter, Staff Test Engineer, ON Semiconductor

Устройства с сигналами различной природы

Производители полупроводниковых микросхем знают, что тестирование устройств с типовыми и предельными параметрами на разнообразном наборе сигналов различной природы часто приводит к широкому диапазону требований к испытаниям. Для устройств с сигналами различных типов, таких как преобразователи данных, ИС управления питанием, датчики отпечатков пальцев, линейные устройства и устройства MEMS, STS предоставляет гибкую платформу для тестирования на производстве, которая может быть масштабирована или в сторону увеличения в соответствии с растущими объемами производства, или в сторону уменьшения в соответствии с ограничениями бюджета.

Основные характеристики

 

  • Распространенная аппаратура для тестирования устройств с сигналами различной природы, включая цифровые, VI (источники-измерители постоянного тока), коммутаторы и многое другое
  • Интерактивное ПО, которое помогает упростить разработку тестовых программ, ускорить шеф-монтаж оборудования для тестирования и упростить отладку
  • Обширная библиотека средств измерений, которая обеспечивает отправную точку более высокого уровня для разработки программы тестирования
  • Дополнительные средства генерации и захвата высокочастотных сигналов
  • Дополнительные средства ввода и вывода звука

"In the end, we found that STS was 30 percent faster, met all our success criteria, and was cheaper to purchase than renting traditional ATE."

John Cooke, Product Test Engineer, Cirrus Logic

Чтобы узнать больше о решениях для тестирования полупроводниковых устройств, свяжитесь с техническим экспертом

Услуги


УСЛУГИ И ПОДДЕРЖКА ПО STS

NI предлагает специализированные услуги и программы, предназначенные для удовлетворения критических потребностей в работоспособности решений по тестированию полупроводниковых изделий, помогая максимально повысить эффективность, оптимизировать производительность тестера и достичь долгого срока его службы. При каждом развертывании STS NI сотрудничает с Вами, чтобы определить уровень обслуживания, который наилучшим образом соответствует потребностям Вашей задачи и обеспечивает успех в долгосрочной перспективе.