Параметрическое тестирование на пластине

Специалистам по тестированию на пластине требуется сокращение времени тестирования без ущерба качеству и точности измерений.

Интеллектуальный подход к параметрическому тестированию на пластине

Поскольку производители интегральных схем продолжают внедрять новые и инновационные процессы наряду с уменьшением размеров устройств, требуется, чтобы дополнительная сложность этих изменений не повлияла на долгосрочную надежность интегральных схем. Ввиду быстрого развития технологий производители микросхем должны собирать и анализировать больший объем данных о надежности изделий наряду с уменьшением стоимости тестирования. Столкнувшись с проблемой увеличения объема данных при уменьшении затрат, большинство инженеров не в состоянии ее решить и обращаются к настраиваемым модульным решениям, которые могут удовлетворить их потребности.

Брошюра NI по полупроводниковым приборам

Узнайте больше о том, как снизить стоимость тестирования с помощью подхода к тестированию полупроводниковых приборов на основе платформы.

Рекомендуемые материалы

Продукты и решения

Партнерская сеть NI Alliance Partner Network

Партнерская сеть Alliance Partner Network включает более 1 000 компаний, специализирующихся на разработке готовых решений. Начиная с разработки продуктов и заканчивая их внедрением, консультированием и проведением обучения, партнеры NI имеют уникальные оборудование и опыт для решения самых сложных инженерных задач.

Прикладной материал


Комплект документации по платформе PXI

Изучите основы платформы PXI для определения характеристик полупроводниковых приборов с помощью замечаний по архитектуре, соответствующих решений заказчиков и показателей производительности.