Тестирование на уровне пластины

Тестирование на уровне пластины требует малого размера системы без ущерба качеству и точности измерений.

Semiconductor companies use National Instruments solutions for wafer level reliability.

Компетенции NI

Поскольку производители интегральных схем продолжают внедрять новые и инновационные процессы наряду с уменьшением размеров устройств, требуется, чтобы дополнительная сложность этих изменений не повлияла на долгосрочную надежность интегральных схем. Из-за быстрого развития технологий производители микросхем должны собирать и анализировать больший объем данных наряду с уменьшением стоимости тестирования. Столкнувшись с проблемой увеличения объема данных при уменьшении затрат, большинство инженеров не в состоянии ее решить с традиционным оборудованием и обращаются к гибким модульным решениям, которые соответствуют их требованиям.

Материалы по теме

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.
NI SMU Technology Improves Test Execution Compared to Traditional SMUs
The NI PXIe-4135 SMU has a measurement sensitivity of 10 femptoamps and voltage output up to 200 V.

Продукты и решения

Сеть партнеров NI Alliance Partner Network

Сеть партнеров Alliance Partner Network включает более 950 компаний, специализирующихся на разработке готовых решений. Начиная с разработки продуктов и заканчивая их применением, консультированием и проведением обучения, партнеры NI имеют необходимое оборудование и опыт для решения самых сложных инженерных задач.

Комплект материалов


PXI 101

Изучите основы стандартизованной платформы PXI для автоматизированного тестирования.