Тестирование ЭКБ

Требования полупроводниковых технологий часто опережают современные методы тестирования, которые традиционные тестеры микросхем обеспечивают для аналогового, смешанного и радиочастотного тестирования. Инженерам, разрабатывающим полупроводниковые приборы, требуются масштабируемые решения, которые справляются с трудностями сокращения расходов и времени разработки.

Преимущества подхода NI

Сокращение стоимости тестирования

Платформенный поход, от измерения характеристик до тестирования на производстве, предоставляет высокопроизводительные тестовые решения с оптимизированной стоимостью для смешанного и СВЧ тестирования.

Ускорение тестирования

Пользователи решений от NI по тестированию электронно-компонентной базы сообщают о 10-кратном сокращении времени тестирования с сохранением требований к измерениям и характеристикам.

Более точные измерения

Продукция NI гарантирует лучшую в отрасли точность измерений с поддержкой калибровки и системных служб для обеспечения долгосрочной производительности.

Области применения

Материалы по теме

The PXI-based NI Semiconductor Test System (STS) combines modular instrumentation and system design software for RF and mixed-signal production test.
Smarter Devices Require Smarter Test Systems
Find out how PXI digital pattern instruments bring semiconductor ATE digital capability to the open PXI platform.