Тестирование ЭКБ

Требования полупроводниковых технологий часто опережают современные методы тестирования, которые традиционные тестеры микросхем обеспечивают для аналогового, смешанного и радиочастотного тестирования. Инженерам, разрабатывающим полупроводниковые приборы, требуются масштабируемые решения, которые справляются с трудностями сокращения расходов и времени разработки.

Преимущества подхода NI

Higlight Image

Сокращение стоимости тестирования

Платформенный поход, от измерения характеристик до тестирования на производстве, предоставляет высокопроизводительные тестовые решения с оптимизированной стоимостью для смешанного и СВЧ тестирования.

Higlight Image

Ускорение тестирования

Пользователи решений от NI по тестированию электронно-компонентной базы сообщают о 10-кратном сокращении времени тестирования с сохранением требований к измерениям и характеристикам.

Higlight Image

Более точные измерения

Продукция NI гарантирует лучшую в отрасли точность измерений с поддержкой калибровки и системных служб для обеспечения долгосрочной производительности.

Области применения

Материалы по теме

Categorical Image
Categorical Image
Categorical Image