Программно-аппаратное тестирование (HIL)

Тестирование встраиваемых систем управления автомобилей в реальных условиях может быть трудным, затратным и опасным. Моделирование HIL позволяет инженерам тщательно и эффективно тестировать встроенные устройства в виртуальной среде.

Компетенции NI

Современные двигатели автомобилей отличаются чрезвычайной сложностью, поскольку имеют множество подсистем, каждая из которых располагает контроллерами для управления впрыском топлива, выбросами, шумом двигателя и т. д. Такая сложность представляет проблему для инженеров, которым установлены короткие временные рамки и бюджетные ограничения. Моделирование HIL предоставляет пользователям возможность моделирования конкретных частей встроенной системы, а также их тестирования в виртуальной среде перед выполнением диагностики готовой системы в реальных условиях. Решения HIL от компании NI являются открытыми и гибкими, а также предоставляют инженерам возможность выполнения настроек под свои задачи. Модульная архитектура позволяет инженерам быстро обновлять платформу, добавляя новые функции. Таким образом, они могут адаптировать свои системы тестирования к более требовательным встроенным программным системам. По сравнению с конкурентами рабочие характеристики продуктов NI лучше всего подходят для тестирования инновационных систем управления.

Материалы по теме

Categorical Image
Categorical Image
Categorical Image

Продукты и решения

Higlight Image

Сеть партнеров NI Alliance Partner Network

Сеть партнеров Alliance Partner Network включает более 950 компаний, специализирующихся на разработке готовых решений. Начиная с разработки продуктов и заканчивая их применением, консультированием и проведением обучения, партнеры NI имеют необходимое оборудование и опыт для решения самых сложных инженерных задач.

Комплект материалов


Набор материалов для программно-аппаратного тестирования (HIL)

Данные материалы включают технические учебные материалы для приложений программно-аппаратного моделирования HIL. Узнайте подробнее об архитектуре системы HIL, выборе интерфейсов ввода-вывода, а также об использовании блоков введения неисправностей (FIU) для тестирования электроники.