Confiabilidade do wafer

Os engenheiros responsáveis pela confiabilidade do wafer precisam realizar testes em tempo cada vez menor, sem sacrifício da qualidade ou exatidão de suas medições.

Semiconductor companies use National Instruments solutions for wafer level reliability.

Visão geral da tecnologia NI

Os fabricantes de circuitos integrados estão sempre introduzindo processos novos e inovadores, em dispositivos de geometrias cada vez menores. Entretanto, eles precisam garantir que a maior complexidade decorrente dessas mudanças não afetará a confiabilidade de seus CIs no longo prazo. Com o ritmo cada vez maior da evolução da tecnologia, os fabricantes de semicondutores precisam aumentar a quantidade de dados confiáveis que coletam e analisam e ao mesmo tempo reduzir o custo do teste. Muitos engenheiros já descobriram que não é mais possível solucionar esse desafio de "mais dados e menor custo" utilizando soluções tradicionais. Dessa forma, eles estão passando a adotar soluções modulares flexíveis, que podem se adaptar a novas necessidades.

Destaques

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.
NI SMU Technology Improves Test Execution Compared to Traditional SMUs
The NI PXIe-4135 SMU has a measurement sensitivity of 10 femptoamps and voltage output up to 200 V.

Produtos e soluções

NI Alliance Partner Network

A Alliance Partner Network reúne mais de 950 empresas especializadas em oferecer soluções completas. De produtos e sistemas a serviços de integração, consultoria e treinamento, os NI Alliance Partners têm capacitação técnica e recursos exclusivos para ajudá-lo a solucionar alguns dos maiores desafios da engenharia.

Kit de recursos para aplicações


PXI 101

Conheça os princípios básicos da plataforma padrão PXI para o teste automatizado.