Teste paramétrico no nível do wafer

Os engenheiros de teste no nível wafer precisam realizar testes em tempo cada vez menor, sem sacrificar a qualidade ou exatidão de suas medições.

Uma abordagem mais inteligente para o teste paramétrico no nível do wafer

À medida que os fabricantes de circuitos integrados continuam a lançar processos novos e inovadores reduzindo o tamanho dos dispositivos, eles precisam garantir que a complexidade adicional dessas mudanças não afetem a confiabilidade de seus CIs no longo prazo. Com o ritmo cada vez maior da evolução da tecnologia, os fabricantes de semicondutores precisam aumentar a quantidade de dados confiáveis que coletam e analisam e, ao mesmo tempo, reduzir o custo do teste. Ao se depararem com esse problema de mais dados a um menor custo, muitos engenheiros descobrem que não podem solucionar esse desafio com as soluções tradicionais. Isso faz com que eles busquem soluções modulares flexíveis que podem se adaptar às suas necessidades.

Kit de recursos para plataformas PXI

Conheça os conceitos básicos da plataforma PXI para caracterização de semicondutores com notas arquitetônicas, estudos de caso relevantes e métricas de desempenho.

Destaques

PRODUTOS E SOLUÇÕES

NI Alliance Partner Network

A Alliance Partner Network reúne mais de 1,000 empresas especializadas em oferecer soluções completas. De produtos e sistemas a serviços de integração, consultoria e treinamento, os NI Alliance Partners têm capacitação técnica e recursos exclusivos para ajudá-lo a solucionar alguns dos maiores desafios da engenharia.