메모리 디바이스 테스트

"With PXI, we developed tests faster to debug and characterize faulty memory chips with more flexibility than our previous automated test equipment in the lab."

- Chris Wray - Ramtron International

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내쇼날인스트루먼트는 검증, 특성화 및 생산 환경을 위한 메모리 테스트 솔루션 설계에 필요한 다양한 제품을 제공합니다. NI LabVIEW와 같은 유연성있는 소프트웨어와 통합된 PXI 및 모듈형 계측기를 사용하여 테스트 비용을 절감하고 측정의 반복을 구현하십시오. 본 사이트의 자료 (고객 사례 연구, 기술 튜토리얼, 예제코드)를 통해 PXI와 LabVIEW를 사용한 메모리 디바이스 테스트 방법을 살펴보십시오.

내쇼날인스트루먼트 하드웨어와 소프트웨어 제품은 다음과 같은 측정 기능을 제공합니다.

어드레스, 데이터, 및 컨트롤 라인에 조정가능한 디지털 I/O 전압 및 타이밍
비트 에러 레이트 테스트 (BERT)
파워 서플라이 램프 속도 컨트롤
개방/단락 및 기타 파라미터 측정 확인

내쇼날인스트루먼트의 모듈형 하드웨어와 그래픽 기반 소프트웨어 툴을 사용하면 메모리 테스트 시스템의 유연성을 증대하고 비용을 절감할 수 있습니다.

요구사항에 적합한 메모리 테스트 시스템을 직접 구축하기 위해 내쇼날인스트루먼트의 툴을 어떻게 사용하는지 살펴보십시오. 다음 기술 튜토리얼에서는 NI의 시스템 엔지니어가 작성한 검증된 예제 코드를 통합하여, 테스트 시스템 구축을 위한 주요 전략을 소개합니다. 본 자료는 보편적인 파라미터 측정을 시작하고 메모리 칩을 위한 디지털 테스트 패턴을 생성하도록 제작되었습니다.

Semiconductor Test Memory Resource Kit
본 페이지에 수록된 기술 튜토리얼 및 메모리 칩 예제 코드를 다운로드하십시오.

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