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"PXIを使用して、従来の自動テスト装置よりもすばやくデバッグを行い、障害のあるメモリチップをより柔軟に特性評価できるテストが開発できました。" - Chris Wray - Ramtron International |
ナショナルインスツルメンツでは、検証、特性評価、製造環境で使用するメモリテストソリューションを設計するための製品を各種取り揃えています。PXIとモジュール式計測にNI LabVIEWなどの柔軟性に富んだソフトウェアを併せて使用することで、テストのコストを削減し計測の再現性を高めることができます。PXIとLabVIEWを使用したメモリデバイステストについて理解を深めていただくため、本サイトではユーザ事例や技術資料、サンプルコードなど各種リソースをご用意しています。
ナショナルインスツルメンツのソフトウェア/ハードウェア製品は、下記の計測機能を備えています。
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電圧とタイミングが調整可能なアドレス、データ、制御ライン用デジタルI/O
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ビットエラーレートテスト（BERT）
- 電源ランプレートを制御
- 短絡/開放その他パラメトリック計測をチェック
