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"The new automated system can run 12 modules asynchronously with FPGA digital I/O communication, testing up to four different product types with a test time of 48 minutes for 12 devices."
- David
Hakey
- Medtronic, Inc.
自動高電圧除細動器のテスト(英語)
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ナショナルインスツルメンツは、30年以上にわたり、世界中の企業におけるコスト効果の高い自動テストシステムの構築を支援してきました。NIのソフトウェアとハードウェアを使用すると、信号集録・生成、RF、電源、スイッチなど多彩なモジュールから選んで、計測器を特定の計測ニーズに合わせてソフトウェアで構成することが可能です。オープンなPCテクノロジとモジュール式計測に最新のテストシステムソフトウェアを組み合わせたプラットフォームの採用により、コストの削減を実現できます。
その他のユーザ事例
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半導体テストシステム
ナショナルインスツルメンツのPXIとモジュール式計測器を使用すると、様々な自動テストシステムや検証システムを構築できます。ここでは、CMOS半導体チップのデジタル特性をテストするための半導体検証システムの例を紹介します。
- 高速デジタル波形発生器
- 高精度ソースメジャーユニット(SMU)
- BERTのサンプルコード
リファレンスアーキテクチャを見る
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RFテストシステム
NIでは、ワイヤレスデバイスの設計とテストに役立ち、テストにかかる時間を大幅に削減できるソフトウェア定義のモジュール式RF計測製品を提供しています。また、ソフトウェアベースの計測器を使用することにより、1つのシステムで複数のワイヤレス規格をテストできます。
- 業界標準からスタムまで、プロトコルをいくつでもテスト可能
- マルチコア処理によるスループットの向上
- DC計測、ミックスドシグナル計測、スイッチ、RAIDストレージを統合
RFテストシステムの構成
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NIアライアンスパートナーとは、NI製品の活用方法に詳しいコンサルティング企業、システムインテグレータ、製品開発サービスを担う企業の総称です。
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