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半導體測試的新儀控功能

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NI 新款模組提升了量測功能、降低設備成本,並縮短多種受測裝置 (DUT) 的測試時間,針對半導體的特性描述與生產測試,大幅擴充 PXI 功能。NI 很高興為大家介紹  PXI 最高彈性的 24 通道數位 Per-pin Parametric Measurement Unit (PPMU),為最高通道數的電源量測單位 (SMU),且具備 PXI 規格的 SourceAdapt 技術,可擴充 PXI 平台的 RF 效能與功能。

另整合 NI LabVIEW 圖形化程式設計的簡單易用性,讓新款儀器可測試多種裝置,包含無線 IC、電源管理 IC、微機電整合系統 (MEMS) 裝置、類比數位轉換器 (ADC)/數位類比轉換器 (DAC)。 

觀看此影片,了解首次以數位方式控制 SMU 的 SourceAdapt 技術

觀看 NI PXI 進行特性描述的網路研討會

具備 PPMU 的高速數位 I/O

NI PXIe-6556 - 高速數位 I/O 與 PPMU,僅透過 PXI 平台的單一模組,即可進行數位與參數量測。

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4 個通道的 SMU


NI PXIe-4141/40 SMU 為高速、高通道數的 SMU,各組 PXI Express 插槽可提供 4 個相同的 SMU 通道。NI PXIe-4141 另具備 SourceAdapt 技術,為業界首次以數位方式而控制的 SMU。

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業界最高效能的向量訊號分析器 (VSA)

NI PXIe-5665 為高效能向量訊號分析器,可於 10 khz 偏移達到 129 dBc/Hz 相位雜訊,與 -165 dBm/Hz 雜訊水平 (Noise floor)。僅需較低成本,即可達到機架堆疊式儀器的 20 倍量測效能。

觀看規格與報價

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