NI erweitert die Einsatzmöglichkeiten von PXI-Systemen für die Halbleitercharakterisierung und Produktionsprüfung mit neuen Modulen, die die Messfunktionalität erhöhen und die Anschaffungskosten sowie die Prüfzeiten für eine Vielzahl von Prüflingen reduzieren. Die neuen Produkte umfassen die äußerst flexiblen PPMU-Module (Per-Pin Parametric Measurement Unit) mit zusätzlichen 24 digitalen Kanälen, SMU-Module mit SourceAdapt-Technologie und bisher unerreichter Kanaldichte sowie Module mit gesteigerter Leistung und Funktionalität für den RF-Bereich der PXI-Plattform.
In Kombination mit der bedienfreundlichen Programmierumgebung NI LabVIEW kann dank dieser neuen Messgeräte eine Vielzahl von Systemen getestet werden, darunter A/D-Wandler, D/A-Wandler, Power Management ICs (PMICs), Wireless-ICs sowie mikroelektromechanische Systeme (MEMS).
Sehen Sie sich den Webcast zum Charakterisierungstest mit NI PXI an.
Hochgeschwindigkeits-
Digital-I/O mit PPMU
Das Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Modul NI PXIe-6556 mit PPMU ermöglicht digitale und parametrische Messungen auf der PXI-Plattform mit einem einzigen Modul.
Mehr dazuSMUs mit 4 Kanälen
Bei den Modulen NI PXIe-4141/40 handelt es sich um Hochgeschwindigkeits-SMUs mit vier identischen Kanälen je PXI-Express-Steckplatz. Das NI PXIe-4141 mit SourceAdapt-Technologie ist die branchenweit erste digital gesteuerte SMU.
Mehr dazuVektorsignalanalysator mit branchenweit höchster Leistungsfähigkeit
Der NI PXIe-5665 ist ein leistungsstarker Vektorsignalanalysator mit einem Phasenrauschen von 129 dBc/Hz bei 10 kHz Offset und einem Rauschpegel von -165 dBm/Hz. Erfahren Sie, wie Sie leistungsstarke Messungen bis zu 20-mal schneller und deutlich kostengünstiger als mit Messgeräten für die Rackmontage durchführen können.
Spezifikationen und Preise