DC 측정 성능 극대화를 위한 5 가지 우수 사례

전원 관리 IC 또는 RF 전력 증폭기를 테스트하는 경우, 품질이 우수한 DC 측정은 반도체 칩 테스트의 초석입니다. 이러한 기본 모범 사례를 적용하여 측정 정확도와 제품 품질을 향상시킵니다.

1. 원격 감지를 사용하여 리드 저항의 영향을 상쇄하십시오

일반적인 2선식 측정에서는 리드의 저항은 파악할 수 없습니다. 이로 인해 리드에 전압 강하가 발생하고 측정 오류가 발생합니다. 리드 저항의 영향은 저저항(low-resistance) 및 저전압(low-voltaage) 측정시 특히 현저하게 드러납니다. 원격 감지는 리드 저항의 영향을 방지하도록 설계된 4선 측정 설정입니다. 원격 감지 기능을 사용하면 한 세트의 리드가 출력 전류를 전달하는 반면 다른 세트의 리드는 DUT (device-under-test) 터미널에서 전압을 직접 측정합니다. 이를 통해 계측기는 전압 강하를 보상하고 측정 결과를 향상시킬 수 있습니다.

2. 오프셋 전압 보상

오프셋 전압 오류의 일반적인 원인은 다른 온도를 가진 두 개의 금속이 서로 접촉 할 때 생성되는 열 EMF 때문입니다. 이는 측정 회로에 전압을 생성하는 열전대를 형성합니다. 열 EMF로 인한 오차는 일반적으로 마이크로 볼트 범위 내에 있으며, 이는 저전압(low-voltage) 또는 저저항(low-resistance) 측정시 중요한 고려 사항입니다. 오프셋 보상 및 전류 반전은 오프셋 전압을 제거하고 결과의 정확도를 향상시키는 두 가지 방법입니다.

3. 외부 노이즈 최소화

전자기 간섭 또는 기생 용량과 같은 다양한 소스로 인해 측정 시스템에 노이즈가  발생할 수 있습니다. 전자파 간섭은 AM/FM 라디오, TV 또는 전력선과 같은 것에서 발생할 수 있습니다. 기생 용량은 대전된 물체가 측정 회로에 가까운 곳에 있을 때 발생합니다. 이는 진동 노이즈 또는 측정에 대한 오프셋으로 나타날 수 있습니다. 측정 설정에 차폐를 추가하면 이러한 오류의 원인이 줄어들어 계측기가보다 깨끗한 신호를 측정 할 수 있습니다.

4. 누설 전류 방지

보호 장치는 측정 장치의 HI 및 LO 단자 사이에 추가된 전도성 층으로, HI 단자와 동일한 전압으로 구동됩니다. 차폐(shielding)가 전자기 간섭의 외부 원인으로부터 보호하는 반면, 보호(guarding)는 누설 전류가 차폐와 측정 회로 사이에서 흐르는 것을 방지합니다. 이는 특히 저전류(low-voltage) 측정에 중요합니다. 추가적인 이점으로, 보호층은 기생 용량이 실드로부터 영향을 줄여 신호의 안정 시간을 향상시킵니다.

5. 교정의 중요성 이해

귀하의 계측기가 보증된 사양을 달성하기 위해서는 교정이 필요합니다. 많은 사람들이 시간 경과에 따른 드리프트 보정을 위해 계측 실험실로 보내지는 외부 교정에 익숙하지만 자체 교정이라고하는 다른 형태의 교정도 중요하며 장치 온도가 변함에 따라 장비가 일관되게 작동하는데 도움이됩니다. 실험실의 실내 온도를 간단히 변경하거나 작동 온도 범위에서 장치를 테스트하면 측정에 큰 영향을 줄 수 있습니다. 자가 교정을 통해 매번 측정 값이 정확해집니다.

기술 백서


DC 측정 성능 극대화

이 가이드에서는 전원 관리 IC, RF 전력 증폭기 및 기타 IC의 측정 정확도와 제품 품질을 향상시키는 방법에 대해 설명합니다. 위에 요약된 5 가지 우수 사례를 자세히 살펴보고 다음 주제에 대해 알아보십시오.

 

  • 소스 측정 단위 이론
  • 측정 정확도
  • 정확도 VS. 속도 트레이드오프
  • 펼싱 효과

주요 어플리케이션