반도체

반도체 기술이 발전하면서 아날로그 및 혼합 신호, RF 테스트에 기존의 ATE에서는 제공되지 않는 기능이 요구됩니다. 이에 반도체 엔지니어는 비용, 확장성, 설계, 장비의 문제점을 해결해주는 스마트 솔루션이 필요합니다.

NI 솔루션의 장점

테스트 비용 절감

플랫폼 기반 방식은 특성화에서 양산 테스트에 이르기까지 RF 및 혼합 신호 테스트를 위한 고성능 테스트 솔루션을 제공합니다.

테스트 시간 단축

NI 반도체 테스트 고객들은 측정 및 성능 요구사항을 만족시키면서 테스트 시간을 10배 단축시켰습니다.

측정 정확도 향상

NI 제품은 업계 최고의 측정 정확성을 제공하며, 교정 및 시스템 서비스로 장기간 성능을 보장합니다.

어플리케이션

주요 내용

PXI 기반의 NI 반도체 테스트 시스템(STS)은 RF 및 혼합 신호 테스트를 위해 모듈형 계측과 시스템 설계 소프트웨어를 결합하였습니다
스마트 디바이스에는 스마트한 자동화 테스트 시스템이 필요합니다
PXI 디지털 패턴 계측기는 ATE 등급 디지털 기능을 업계 표준 PXI 플랫폼에 구현하므로 다양한 RF 및 혼합 신호 집적 회로(IC)를 테스트할 수 있습니다