반도체

반도체 기술이 발전하면서 아날로그 및 혼합 신호, RF 테스트에 기존의 ATE에서는 제공되지 않는 기능이 요구됩니다. 이에 반도체 엔지니어는 비용, 확장성, 설계, 장비의 문제점을 해결해주는 스마트 솔루션이 필요합니다.

NI 솔루션의 장점

테스트 비용 절감

플랫폼 기반 방식은 특성화에서 양산 테스트에 이르기까지 RF 및 혼합 신호 테스트를 위한 고성능 테스트 솔루션을 제공합니다.

테스트 시간 단축

NI 반도체 테스트 고객들은 측정 및 성능 요구사항을 만족시키면서 테스트 시간을 10배 단축시켰습니다.

측정 정확도 향상

NI 제품은 업계 최고의 측정 정확성을 제공하며, 교정 및 시스템 서비스로 장기간 성능을 보장합니다.

어플리케이션

주요 내용

The PXI-based NI Semiconductor Test System (STS) combines modular instrumentation and system design software for RF and mixed-signal production test.
Smarter Devices Require Smarter Test Systems
Find out how PXI digital pattern instruments bring semiconductor ATE digital capability to the open PXI platform.