ベンチトップ計測/テスト
分散計測/制御
高性能テスト
「ビジョン」では、NIがテストとテクノロジの世界で次に何が起こるかをどのように認識しているかについて紹介します。
修理、RMA、キャリブレーション予定、または技術サポートをリクエストいただけます。ご利用にはサービス契約が必要となる場合があります。
NIの集録および信号調整デバイスをサポートします。
Ethernet、GPIB、シリアル、USBおよびその他のタイプの計測器をサポートします。
NI GPIBコントローラおよびGPIBポートを備えたNI組込コントローラをサポートします。
37ピンD-Subコネクタ用カットアウト付きシェル、Cシリーズモジュールシェル—cRIO‑9955は、OEMやシステムインテグレータ向けに、カスタムCompactRIO I/Oモジュール開発のためのコスト効率の良いソリューションを提供します。 cRIO‑9955は、37ピンD‑‑‑‑Subコネクタ、モジュールをCompactRIOシャーシに接続するためのPCB直角15ピンD‑‑Subコネクタ、ネジ付き37ピンD‑Subコネクタ用のカットアウト(通し穴)を備えています。
お使いの製品と互換性があるソフトウェア、ハードウェア、オペレーティングシステムを確認できます。
最初の測定を行うためのハードウェアの接続および構成方法を説明します。
ご希望の項目を選択してください。ご案内情報を提供いたします。
ありがとうございます。
近日中にご連絡いたします。