PXIe-6570
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2スロット、100 Mベクトル/s PXIデジタルパターン計測器
NI PXIe‑6570は、半導体の特性評価と製造テストに最適です。 NI PXIe‑6570は、ピンマップや仕様、レベル、タイミング、パターンを構成できるDigital Pattern Editorとともに使用します。 また、Digital Pattern Editorには、Shmooプロットやデジタルスコープ、履歴RAM、ピン状態、システムステータスのビューアといったデバッグツールも備わっています。
製品番号:
785283-01 |
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多数の自習形式のトレーニングやアプリケーションごとの学習プランにアクセスできるほか、各製品のセットアップに役立つチュートリアルが用意されています。
