半導体

従来​の​アプローチ​が​持つ​アナログ、​ミックス​ド​シグナル、​RF​テスト​機能​では、​最新​の​半導体​技術​の​要件​に​応え​ら​れ​ない​ケース​が​少​なく​ありま​せん。 半導体​の​テスト​エンジニア​は、​コスト、​スケーラビリティ​の​確保、​設計​や​デバイス​特有​の​技術​課題​を​解決​できる​ソリューション​を​求め​てい​ます。

主​な​アプリケーション例

柔軟性​に​優​れ​た​半導体​テスト​ソリ​ュ​ー​ション

私​たち​が​使う​機器​は​スマート​化​する​につれ、​ソフトウェア​中心​へ​と​移行​し​てい​き​ます。​これらの​スマート​機器​に​動力​を​供給​する​半導体​の​業界​は​転換期​を​迎え​て​おり、​IC​の​設計/​製造​方法​だけ​で​なく、​その​テスト​方法​まで​も​が​変化​し​てい​ます。​スマート​機器​の​タイプ​に​関係​なく、​ビジネス​を​動かす​要因​は​同じ​です。​IC​メーカー​は、​より​統合​さ​れ​た​機能​を​提供​し、​ミッション​クリティカル​な​アプリケーション​向け​に​高い​信頼​性​を​確保​し、​コスト​競争​力​を​維持​し​ながら、​短時間​で​市場​に​製品​を​投入​する​必要​が​あり​ます。​NI​は、​ラボ​から​製造​現場​に​まで​拡張​できる、​より​スマート​な​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​を​提供​し​て、​IC​メーカー​の​ビジネス​ニーズ​に​応え​ます。

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Integrated Device Technology（IDT）​社​では、​半導体​テスト​システム​（STS）​を​使用​した​こと​で、​多数​の​デバイス​を​テスト​できる​よう​に​なり、​高い​テスト​スループット​と​将来​の​テスト​要件​に​も​対応​できる​拡張​性​を​兼​ね​備え​た​テスト​システム​を​構築​しま​した。

アナログ・​デバイセズ​社​は、​LabVIEW​および​PXI​を​用​い​て、​以前​製造​に​使用​し​てい​た​自動​テスト​装置​と​比べ​て、​設備​投資​コスト​を​11​分​の​1​に​削減​する​MEMS​テスト​システム​を​開発​しま​した。

TriQuint Semiconductor​社​は、​PXI​を​使用​し​て、​計測​品質​を​損​な​っ​たり​投資​コスト​を​増加​さ​せ​たり​する​こと​なく、​携帯​電話​用​パワー​アンプ​の​特性​評価​の​時間​を​2​週間​から​1​日​に​短縮​しま​した。

広帯域​5G​デバイス​の​テスト​における​5​つ​の​課題

 

広帯域​5G​デバイス​を​扱う​設計​者​や​テスト​エンジニア​は、​信頼​性​に​優​れ​た​新しい​チップ​を​設計​する​ため、​費用​対​効果​が​高​く、​正確​で​迅速​な​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​を​必要​として​い​ます。​広帯域​5G IC​テスト​の​重要​な​課題​と​ソリューション​について​ご​紹介​し​ます。

 

DC​計測​の​パフォーマンス​を​最大​化​する​ため​の​5​つ​の​最善策


電源​管理​IC​や​RF​パワー​アンプ​を​テスト​する​場合、​質​の​高い​DC​計測​を​行う​こと​が​半導体​チップ​の​テスト​の​要​となり​ます。​これらの​基本​的​な​最善​策​を​適用​する​こと​で、​計測​確度​と​製品​品質​を​向上​させる​こと​が​でき​ます。