半導体

従来​の​アプローチ​が​持つ​アナログ、​ミックス​ド​シグナル、​RF​テスト​機能​では、​最新​の​半導体​技術​の​要件​に​応え​ら​れ​ない​ケース​が​少​なく​ありま​せん。 半導体​の​テスト​エンジニア​は、​コスト、​スケーラビリティ​の​確保、​設計​や​デバイス​特有​の​技術​課題​を​解決​できる​ソリューション​を​求め​てい​ます。

柔軟性​に​優​れ​た​半導体​テスト​ソリ​ュ​ー​ション

私​たち​が​使う​機器​は​スマート​化​する​につれ、​ソフトウェア​中心​へ​と​移行​し​てい​き​ます。​これらの​スマート​機器​に​動力​を​供給​する​半導体​の​業界​は​転換期​を​迎え​て​おり、​IC​の​設計/​製造​方法​だけ​で​なく、​その​テスト​方法​まで​も​が​変化​し​てい​ます。​スマート​機器​の​タイプ​に​関係​なく、​ビジネス​を​動かす​要因​は​同じ​です。​IC​メーカー​は、​より​統合​さ​れ​た​機能​を​提供​し、​ミッション​クリティカル​な​アプリケーション​向け​に​高い​信頼​性​を​確保​し、​コスト​競争​力​を​維持​し​ながら、​短時間​で​市場​に​製品​を​投入​する​必要​が​あり​ます。​NI​は、​ラボ​から​製造​現場​に​まで​拡張​できる、​より​スマート​な​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​を​提供​し​て、​IC​メーカー​の​ビジネス​ニーズ​に​応え​ます。

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