半導体​業界​向け​ソリューション

従来​の​ATE(自動​試験​装置)​が​持つ​アナログ、​ミックス​ド​シグナル、​RF​テスト​の​機能​では、​半導体​業界​が​求める​最新​の​技術​要件​に​応え​ら​れ​ない​ケース​が​あり​ます。​半導体​エンジニア​は、​コスト​の​削減、​スケーラビリティ​の​確保、​設計​や​デバイス​特有​の​技術​課題​を​解決​できる​ソリューション​を​求め​てい​ます。​NI​は、​最新​の​技術​要件​に​対応​した​ATE​を、​迅速​かつ​柔軟​に、​しかも​低​コスト​で​構築​できる​スマート​な​ソリューション​を​提供​し​ます。

NI​が​選​ばれる​理由

テスト​コスト​を​削減

開発​時​の​特性​評価​から​量産​時​の​検査​に​至る​まで​の​RF/​ミックス​ド​シグナル​テスト​全て​に、​NI​の​プラットフォーム​ベース​の​アプローチ​を​適用​する​こと​が​でき​ます。​プラットフォーム​ベース​の​テスト​アプローチ​を​採用​する​こと​で、​費用​対​効果​が​高​く​高性能​な​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​の​構築​が​可能​です。

テスト​の​高速化

NI​の​プラットフォーム​ベース​の​アプローチ​なら、​開発​用​評価​環境​に​PXI​モジュール​を​増設​する​こと​で、​量産​用​テスト​環境​を​短期間​で​構築​可能​です。​開発​と​量産​の​テスト​結果​の​相関​も​容易​に​取る​こと​も​でき​ます。​半導体​の​量産​テスト​に​適用​した​ユーザー​事例​の​なかには、​テスト​対象​の​変更​に​伴う​環境​再​構築​や​性能​向上​に​要する​時間​を​10​分​の​1​に​短縮​でき​た​事例​も​あり​ます。

高​確度​の​計測​を​実現

NI​製品​の​計測​精度​を​維持​する​ため​の​校正​サービス​と、​厳しい​品質​基準​に​基づく​システム​サービス​が​用意​さ​れ​てい​ます。​これらの​サービス​を​活用​する​こと​で、​業界​トップクラス​の​計測​確度​を​長期​にわたって​維持​でき​ます。

主​な​アプリケーション例

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