半導体

従来​型​ATE​が​持つ​アナログ、​ミックス​ド​シグナル、​RF​テスト​機能​では、​最新​の​半導体​技術​の​要件​に​応え​ら​れ​ない​ケース​が​少​なく​ありま​せん。 半導体​技術​者​は、​コスト、​設計、​デバイス​特有​の​技術​課題​を​解決​できる​スケーラブル​な​ソリューション​を​求め​てい​ます。

NI​アプローチ​の​メリット

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テスト​コスト​を​削減

特性​評価​から​製造​まで、​RF/​ミックス​ド​シグナル​テスト​に​全て​プラットフォーム​ベース​の​アプローチ​を​採用​する​こと​で、​コスト​効果​が​高​く​高性能​の​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​が​構築​でき​ます。

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テスト​の​高速化

NI​製品​を​使用​し​て​計測/​性能​要件​の​保守​を​行​っ​た​ユーザ​は、​テスト​に​かかる​時間​を​10​分​の​1​に​短縮​した​と​の​報告​が​あり​ます。

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高​確度​の​計測​を​実現

NI​製品​なら、​校正​と​システム​サービス​による​長期​的​性能​の​維持​により、​業界​トップクラス​の​計測​確度​を​実現​でき​ます。

アプリケーション

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