最新​の​計測​技術​を​紹介​する​とともに、​半導体​テスト​の​生産​性​を​高める​ため​の​エンジニアリング​プロセス​の​あり方​について​提案​し​ます。

NI​ブース​では​「Test the Vehicles of Tomorrow Today －​「未来​の​くる​ま」​の​開発​の​「今」​を​支える​テスト​プラットフォーム ~」​を​テーマ​に​掲​げ、​NI​の​テスト​プラットフォーム​を​デモンストレーション​を​交​えて​紹介​し​ます。

NI​ソフトウェア​は​NI​が​提唱​する​プラットフォーム​ベース​アプローチ​の​中心​となり​ます。​ここ​では、​LabVIEW​や​DIAdem​など​の​主​な​NI​ソフトウェア​製品​の​操作性​を​紹介​し​ます。