院校资源 关于NI 培训与活动 NI Developer Zone 技术支持 应用案例 产品与服务 联系NI MyNI

硬件在环 (HIL)测试

NI提供开放的软硬件技术,为从研发到生产制造等各个环节提供测试解决方案。NI硬件在环(HIL)测试平台同样通过开放的软硬件技术,针对各种不同的HIL应用提供可定制的解决方案平台,降低了HIL测试系统的开发时间、成本和开发风险。

什么是HIL测试?

了解HIL测试的应用场合及其在控制系统验证中所起的作用

NI HIL平台

了解工程师为何选用NI HIL平台以及该平台的工作方式

HIL参考系统

查看可定制的HIL测试系统组合包

 

HIL仿真备忘列表

使用HIL仿真备忘列表,确定您所需的HIL测试系统。

下载备忘列表 (PDF)

成功应用案例

了解业内领先的公司如何从NI HIL平台中获益。

下载案例分析

NI HIL平台中的新产品

查看即买即用的实时测试软件、新型故障注入产品系列、针对HIL优化的CAN接口、新型FlexRay模块和航空总线接口。

更多信息