硬件在环 (HIL)测试![]() NI提供开放的软硬件技术,为从研发到生产制造等各个环节提供测试解决方案。NI硬件在环(HIL)测试平台同样通过开放的软硬件技术,针对各种不同的HIL应用提供可定制的解决方案平台,降低了HIL测试系统的开发时间、成本和开发风险。 HIL仿真备忘列表使用HIL仿真备忘列表,确定您所需的HIL测试系统。 成功应用案例了解业内领先的公司如何从NI HIL平台中获益。 NI HIL平台中的新产品查看即买即用的实时测试软件、新型故障注入产品系列、针对HIL优化的CAN接口、新型FlexRay模块和航空总线接口。 |