| 디지털 I/O 채널: | 32 |
| 최대 클럭 속도: | 100 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, LVTTL, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 100 Mbits/s |
고속 디지털 I/O
NI의 고속 디지털 I/O 인스트루먼트는 최신의 디지털 및 혼합 신호 시스템을 위한 고급 인터페이싱 및 테스트 기능을 제공합니다. PC 기반 디지털 인스트루먼트를 사용하여 유연성 있고 강력한 테스트 시스템을 구축함으로써 사용자 정의된 통신 분석에서 End-of-Line 기능 테스트에 이르는 다양한 어플리케이션의 문제를 해결할 수 있습니다. NI 고속 디지털 인스트루먼트는 프로그램 가능한 전압 레벨, 대용량 온보드 메모리, 및 정밀 데이터 지연 뿐만 아니라 PCI Express 인터페이스에서 온보드 데이터 검증 및 전용 처리량 등 고급 테스트 기능을 제공합니다.
주요 제품
제품 결과 (28 개 디바이스/모듈)
검색 조건
1
2
| 디지털 I/O 채널: | 32 |
| 최대 클럭 속도: | 50 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, LVTTL, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 50 Mbits/s |
3
| 디지털 I/O 채널: | 16 |
| 최대 클럭 속도: | 100 MHz |
| 논리 레벨: | LVDS |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 200 Mbits/s |
4
| 디지털 I/O 채널: | 16 |
| 최대 클럭 속도: | 200 MHz |
| 논리 레벨: | LVDS |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 400 Mbits/s |
5
| 디지털 I/O 채널: | 16 |
| 최대 클럭 속도: | 200 MHz |
| 논리 레벨: | LVDS |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 400 Mbits/s |
6
| 디지털 I/O 채널: | 32 |
| 최대 클럭 속도: | 20 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, 5 V |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 20 Mbits/s |
7
| 디지털 I/O 채널: | 20 |
| 최대 클럭 속도: | 50 MHz |
| 논리 레벨: | 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V, 5 V, 프로그램가능 |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 50 Mbits/s |
8
| 디지털 I/O 채널: | 20 |
| 최대 클럭 속도: | 100 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, LVTTL, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V, 5 V, 프로그램가능 |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 100 Mbits/s |
9
| 디지털 I/O 채널: | 32 |
| 최대 클럭 속도: | 50 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, LVTTL, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 50 Mbits/s |
10
| 디지털 I/O 채널: | 32 |
| 최대 클럭 속도: | 100 MHz |
| 논리 레벨: | TTL, LVTTL, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V |
| 디지털 I/O 데이터 속도: | 100 Mbits/s |