En quoi consiste le système de test de semi-conducteurs (STS) ?

Le STS est un équipement de test automatique prêt à l'emploi pour les matériels semi-conducteurs RF et mixtes qui permet d'accélérer la mise sur le marché et de réduire le coût des tests.

Une alternative intelligente pour le test RF et mixte de semi-conducteurs

Profitant d'un débit optimisé, le STS est doté d'une architecture unifiée permettant d'accélérer le processus de développement, de mise au point et de déploiement des programmes de test via un logiciel interactif et intuitif, un puissant logiciel de gestion des tests et des exemples pré-construits à glisser et déposer pour les opérations les plus courantes. Le STS est adapté aux cellules de test avec la prise en charge des manipulateurs, handlers et sondes de wafer, et avec une disposition de broches à ressort standard pour des cartes d'interface et des programmes de test aisément transférables. Pour compléter sa solution, NI propose des services d'ingénierie, de bring-up, de formations et de support.

Avantages principaux

  • Une gamme complète d'instruments RF, numériques et DC — Vous pouvez étendre ou réduire votre configuration de STS en fonction des ressources matérielles dont vous avez besoin pour le test de matériels RF et mixtes.




  • Une expérience logicielle unifiée — Le STS fournit des logiciels standard dédiés au développement, à la mise au point et au déploiement de programmes de test multisites, notamment le mappage du brochage/des voies, l'import/export de limites de test, le binning et la création de rapports en STDF .




  • Code de test préconstruit — Vous pouvez utiliser des modèles logiciels de type glisser-déposer pour les opérations de test de semi-conducteurs telles que la génération et l'acquisition signaux RF, la vérification de la continuité, les tests de fuite ou l'envoi en rafale de patterns numériques.
  • Intégration en cellule de test — L'infrastructure standard d'ancrage et d'interfaçage permet une intégration transparente des manipulateurs, handlers de matériel pour le test final et des sondes de wafer pour le test de wafer.




  • Étalonnage du système — Vous pouvez étalonner les ressources numériques, DC et RF sur l'interface de broches de test ou les connecteurs RF à raccordement aveugle.




  • Services et support — Les services d'ingénierie, les services de bring-up, les formations et le support technique vous aideront mettre rapidement votre système en place.

Quelle est la solution faite pour vous ?

Frontaux RF

Les fabricants de puces sans fil savent pertinemment que les délais serrés de mise sur le marché et les tests en production sont des éléments cruciaux à prendre en compte lors du choix d'une solution de test. Pour les amplificateurs de puissance (PA) et les modules frontaux, le STS présente des avantages significatifs en termes de temps de test et de débit comparé aux options traditionnelles d'équipements de test automatique. La participation active de NI dans les applications de laboratoire se traduit par sa solide connaissance des dernières normes sans fil, telles que la 5G NR. NI propose une IP substantielle et de l'instrumentation de pointe avec de larges bandes passantes pour vous aider à accélérer votre processus de développement et de déploiement des tests en production.

Principales fonctionnalités

 

  • 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes
  • Prise en charge des normes sans fil, dont les normes GSM, TD SCDMA, WCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR, et 802.11a/b/g/n/ac/ax
  • Jusqu'à 48 ports RF bidirectionnels avec des capacités de test des paramètres S
  • Bibliothèque de communication SPI, MIPI et numérique personnalisée pour les modules frontaux (FEM)
  • RF haute puissance en option - jusqu'à +40 dBm
  • Mesures d'harmoniques en option - jusqu'à 18 GHz
  • Mesures de facteur de bruit en option - avec facteur Y et source froide

"A few of our other business units have already adopted STS, and it was some of their recommendations that first convinced our RF business unit to try it out for this Massive MIMO application. I’m very pleased by the progress, of course; in manufacturing, throughput is everything. Higher throughput means more devices shipped to our customers faster, which fundamentally means business results."

David Reed, Executive Vice President of Global Operations, NXP

Matériels IoT

Les fabricants de puces semi-conducteur sont bien placés pour savoir que l'émergence de l'Internet des Objets (IoT) a engendré une augmentation de la diversité et du volume des matériels IoT pour semi-conducteur avec un niveau de prix optimisé auquel il peut être difficile de répondre avec des solutions ATE traditionnelles. Pour les matériels IoT basés sur microcontrôleurs fonctionnant sur des normes de communication telles que Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi, et ZigBee, le STS fournit une plate-forme flexible de test en production qui peut être étendue pour faire face aux volumes croissants de production, ou réduite pour répondre aux budgets serrés.

Principales fonctionnalités

 

  • 1 GHz de bande passante pour les mesures RF complexes 
  • Prise en charge des normes de connectivité sans fil, dont les normes Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi, and ZigBee 
  • Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option 
  • Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option


"When NI introduced STS, it was an obvious choice. Why wouldn’t we do it? It married PXI with ATE, which is exactly what we needed . . . We were able to save $60,000 per month and achieve a full return on our investment in less than two years. We increased our test coverage and improved our quality. Furthermore, because of the longevity of the PXI platform and the stability of NI, we are confident that we are investing in a platform that will be around for many years to come."

Warren Latter, Staff Test Engineer, ON Semiconductor

Matériels à signaux mixtes

Pour les fabricants de puces semi-conducteur, le test de matériels typiques et atypiques dans une gamme diverse de produits à signaux mixtes amène souvent de nombreuses exigences de test. Pour les matériels à signaux mixtes, comme les convertisseurs de données, les circuits intégrés de gestion d'alimentation, les capteurs d'empreinte digitale, les matériels linéaires et matériels MEMS, le STS fournit une plate-forme flexible pour le test en production et qui peut être étendue pour répondre aux exigences de test croissantes ou réduite pour répondre aux budgets serrés.

Principales fonctionnalités

 

  • Ressources d'instrumentation communes pour le test de matériels à signaux mixtes, dont le numérique, les VI (unités de source et de mesure DC), les commutateurs, etc.
  • Logiciel interactif qui facilite le développement de programmes de test, accélère le bring-up du testeur, et simplifie la mise au point
  • Bibliothèque complète de mesure qui fournit un point de départ de plus haut niveau pour le développement de programmes de test
  • Ressources pour instrumentation de génération et capture de signaux hautes fréquences en option
  • Ressources pour instrumentation d'entrée et sortie audio en option

"In the end, we found that STS was 30 percent faster, met all our success criteria, and was cheaper to purchase than renting traditional ATE."

John Cooke, Product Test Engineer, Cirrus Logic

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Services et support pour le STS

NI fournit des services et des programmes spécialisés conçus pour répondre aux besoins de disponibilité critiques des applications de test de semi-conducteurs, tout en vous permettant de maximiser l'efficacité, d'optimiser les performances des testeurs et d'assurer la pérennité des systèmes. Pour chaque déploiement de STS, NI s'associe à vous pour déterminer le niveau de services qui correspond le mieux aux besoins de vos applications, et pour vous assurer une réussite à long terme.