Fiabilité au niveau du wafer

Les systèmes de test de fiabilité au niveau du wafer ont un encombrement réduit sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.

Media Feature

Aperçu du savoir-faire NI

Au fur et à mesure que les fondeurs de silicium introduisent de nouveaux processus innovants et réduisent la taille des circuits, ils doivent s'assurer que ces changements n'affectent pas la fiabilité à long terme de leurs produits. L'évolution rapide des technologies les oblige notamment à collecter de plus en plus de données de fiabilité et à les analyser tout en réduisant le coût des tests. Or, de nombreux ingénieurs fiabilité se voient dans l'impossibilité de relever ces défis avec des solutions traditionnelles. Ils se tournent alors vers des solutions modulaires et souples, capables de s'adapter à l'évolution des besoins.

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