Semi-conducteur
Les exigences liées à la technologie des semi-conducteurs évoluent souvent plus vite que les tests effectués avec des équipements de test automatique traditionnels pour les tests analogiques, mixtes et RF. Les ingénieurs d'essai dans l'industrie des semi-conducteurs ont besoin de solutions évolutives qui répondent aux défis posés par le coût, la conception et les produits eux-mêmes.
Les exigences liées à la technologie des semi-conducteurs évoluent souvent plus vite que les tests effectués avec des équipements de test automatique traditionnels pour les tests analogiques, mixtes et RF. Les ingénieurs d'essai dans l'industrie des semi-conducteurs ont besoin de solutions évolutives qui répondent aux défis posés par le coût, la conception et les produits eux-mêmes.
Avantages de l'approche NI
Réduction du coût des tests
L'adoption d'une approche plate-forme permet de bénéficier de solutions de test RF et de signaux mixtes hautes performances au meilleur coût, de la caractérisation à la production.
Des tests plus rapides
Les clients NI qui utilisent les systèmes de test de semi-conducteurs signalent des temps de test 10 fois plus rapides qu'auparavant tout en respectant les exigences en termes de mesures et de performances.
Des mesures plus précises
Les produits NI fournissent des mesures de grande précision et sont supportés par des services matériels et d'étalonnage pour garantir des performances à long terme.
Contenu associé
Avec le système de test de semi-conducteurs (STS), la société IDT (Integrated Device Technology) a été capable de tester une grande diversité de produits tout en garantissant un haut débit de tests et une évolutivité qui répondent aux exigences futures.
Pour tester les appareils intelligents, les entreprises délaissent peu à peu les instruments empilables traditionnels et les systèmes de test automatique à l'architecture fermée au profit d'une approche plate-forme.
Les instruments de patterns numériques au format PXI enrichissent la plate-forme PXI ouverte avec les fonctionnalités numériques des équipements de test automatique de semi-conducteurs.