Semi-conducteur

Les exigences liées à la technologie des semi-conducteurs évoluent souvent plus vite que les approches traditionnelles pour les tests analogiques, mixtes et RF. Les ingénieurs de test dans l'industrie des semi-conducteurs ont besoin de solutions plus évolutives qui répondent aux défis posés par le coût, la conception et les produits eux-mêmes.

Avantages de l'approche NI

Réduction du coût des tests

L'adoption d'une approche plate-forme permet de bénéficier de solutions de test RF et de signaux mixtes hautes performances au meilleur coût, de la caractérisation à la production.

Tests plus rapides

Les clients NI qui utilisent les systèmes de test de semi-conducteurs signalent des temps de test 10 fois plus rapides qu'auparavant, tout en respectant les exigences en termes de mesures et de performances.

Mesures plus précises

Les produits NI fournissent des mesures de grande précision et sont supportés par des services matériels et d'étalonnage pour garantir des performances à long terme.

Applications

With more wireless technologies and faster time-to-market demands, engineers demand a faster and more flexible approach to testing today's RFICs

Test en production sur de grands volumes

Les responsables des tests en production ont besoin d'une alternative plus intelligente que les équipements de test automatique (ATE) traditionnels, afin de répondre aux exigences en termes de coût et de couverture des circuits intégrés RF et à signaux mixtes qui sont de plus en plus complexes.

NI has the tools for engineers to design accurate and optimized Wafer Level Reliability systems.

Caractérisation et validation en laboratoire

Les leaders de l'industrie utilisent une nouvelle approche du test des semi-conducteurs, afin de répondre aux tout derniers défis qui se présentent pour le test de circuits intégrés RF et mixtes. La plate-forme NI ouverte et définie par logiciel permet aux clients de répondre aux exigences de test en constante évolution et de gérer les contraintes liées à la planification.

Customers use National Instruments solutions to reduce the cost of LED characterization and test.

Test paramétrique au niveau du wafer

Les ingénieurs en charge du test au niveau du wafer ont besoin de réduire les temps de test, sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.

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