Pruebas de Paramétricas a Nivel de Oblea

Los ingenieros de pruebas a nivel de oblea necesitan reducir los tiempos de pruebas sin sacrificar la calidad y exactitud de las medidas.

Un Enfoque Más Inteligente para Pruebas Paramétricas a Nivel de Oblea

Conforme las fabricantes de IC continúan introduciendo nuevos e innovadores procesos con la disminución en el tamaño de los dispositivos, se necesita garantizar que la complejidad adicionada por estos cambios no afecte la fiabilidad a largo plazo de sus ICs. Conforme las tecnologías evolucionan a un ritmo rápido, los fabricantes de semiconductores deben aumentar la cantidad de datos confiables que obtienen y analizan, mientras disminuyen el costo de la prueba. Al enfrentarse a este problema de más datos a un menor costo, muchos ingenieros de fiabilidad no pueden resolverlo usando soluciones tradicionales, por lo que están cambiando a soluciones modulares y flexibles que pueden adaptarse para cumplir con sus necesidades.

Kit de Recursos de la Plataforma PXI

Aprenda los fundamentos de la plataforma PXI para caracterización de semiconductores con notas de diseño, casos de estudio relevantes y métricas de rendimiento.

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La Red NI Alliance Partner

La Red Alliance Partner incluye más de 1,000 compañías que se especializan en soluciones completas. Desde productos y sistemas para servicios de integración, consultoría, formación y capacitación, los miembros del programa NI Alliance Partner están equipados y capacitados para ayudar a resolver algunos de los retos de ingeniería más difíciles.