Los osciloscopios de NI incluyen un panel frontal interactivo para funcionalidad inmediata y el mejor API en su clase para medidas automatizadas con control completo de numerosos tipos de medidas, modos de disparo, configuraciones horizontales y verticales y más.
Los osciloscopios de alta velocidad cuentan con ADCs de amplio rango dinámico y alcanzan un bajo nivel de ruido y alta precisión en medidas. A este portafolio lo encabeza el PXIe-5162, el cual cuenta con cuatro ADCs intercalados que muestrean hasta 5 GS/s con 1.5 GHz de ancho de banda analógico.
Los osciloscopios de alta resolución de NI cuentan con alta densidad de canales y alta resolución de medidas. Con resolución de 14 bits y un FPGA Xilinx programable por el usuario, este portafolio puede personalizarse para aplicaciones de pruebas y medidas en industrias que van desde semiconductores hasta aeroespacial y defensa.
Los Osciloscopios PXI tienen memoria de mayor capacidad, capaz de almacenar múltiples adquisiciones de un solo canal o adquisiciones paralelas desde múltiples canales en el mismo dispositivo. También se benefician de las capacidades de transferencia de alta velocidad de la plataforma PXI.
Kit de Recursos de la Plataforma
PXI 101
Aprenda los fundamentos de la plataforma PXI para pruebas automatizadas y medidas con el Kit de Recursos de la Plataforma PXI 101, que incluye notas de la arquitectura, casos de estudio relevantes y métricas de rendimiento.
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