Fiabilidad a Nivel de Oblea

Las pruebas de fiabilidad a nivel de oblea necesitan un tamaño pequeño sin sacrificar la calidad de las medidas.

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La Experiencia de NI

Conforme los fabricantes de IC continúan introduciendo nuevos e innovadores procesos con la disminución en el tamaño de los dispositivos, necesitan garantizar que la complejidad adicionada por estos cambios no afecte la fiabilidad a largo plazo de sus ICs. Conforme las tecnologías evolucionan a un ritmo rápido, los fabricantes de semiconductores deben aumentar la cantidad de datos confiables que obtienen y analizan, mientras disminuyen el costo de la prueba. Al enfrentarse a este problema de más datos a un menor costo, muchos ingenieros de fiabilidad no pueden resolverlo usando soluciones tradicionales, por lo que están cambiando a soluciones modulares y flexibles que pueden adaptarse para cumplir con sus necesidades.

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