Was ist das Semiconductor Test System (STS)?

Das STS ist ein betriebsbereites automatisiertes Prüfsystem für RF- und Mixed-Signal-Halbleiterelemente.

Die intelligentere Alternative zu RF- und Mixed-Signal-Halbleitertests

Das durchsatzoptimierte STS verfügt über eine einheitliche Softwarearchitektur, welche die Abläufe zur Entwicklung, Fehlerbehebung und Implementierung von Prüfprogrammen durch eine intuitive interaktive Softwareumgebung, leistungsstarke Testmanagementsoftware und vorbereitete Beispiele für häufige Aktionen beschleunigt. STS ist einsatzbereit für Prüfzellen und bietet Unterstützung für Manipulatoren, Handler und Wafer-Prober sowie eine Standardanordnung von Federkontaktstiften, die hochkompatible Leiterplatten und Prüfprogramme ermöglichen. Technische Services, Inbetriebnahmedienste, Schulungen und Support runden das Leistungsportfolio ab.

Vorteile im Überblick

  • Umfassendes Portfolio von RF-, Digital- und DC-Messgeräten – STS-Konfigurationen können so auf- oder abwärts skaliert werden, dass die messtechnische Funktionalität vorhanden ist, die Sie für das Testen von RF- und Mixed-Signal-Geräten benötigen.




  • Einheitliche Softwareumgebung – STS bietet Standardsoftware zur Entwicklung, Fehlerbehebung und Implementierung von Prüfprogrammen für mehrere Standorte, darunter Pin-/Kanal-Zuordnung, Grenzwertimport/-export, Binning und Berichterstellung im STDF-Format.




  • Vorgefertiger Testcode – Für häufige Aufgaben in der Halbleiterprüfung, wie etwa HF-Signalerzeugung und -erfassung, Kontinuitäts- und Erdschlussprüfung sowie Ausführung digitaler Muster, können Sie Drag-and-drop-fähige Vorlagen verwenden.
  • Integration von Prüfzellen – Die Standardschnittstellen und Docking-Mechanismen ermöglichen die nahtlose Integration mit Manipulatoren, Gerätehandlern für die Gehäuseprüfung und Wafer-Probern für den Wafertest.




  • Systemkalibrierung – Digital-, DC- und RF-Messgeräte können gegenüber Federkontaktschnittstellen oder Blind-Mate-Ausführungen von HF-Steckern kalibriert werden.




  • Services und Support – Technische Services, Inbetriebnahmedienste, Schulungen und technischer Support ermöglichen Ihnen den schnellen Einstieg in Ihre Anwendung.

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RF-Front-Ends​

Hersteller von Wireless-Chips wissen, dass der Druck zur schnellen Markteinführung und der Durchsatz bei der Fertigungsprüfung wichtige Faktoren zur Evaluierung von Prüflösungen darstellen. Für RF-Leistungsverstärker und Front-End-Module bietet das STS gegenüber herkömmlichen ATE-Ausführungen bedeutende Verbesserungen bei Testzeit und Durchsatz. NI liefert zahlreiche Anwendungen für das Labor und verfügt daher über weitreichende Erfahrung auf dem Gebiet der Wireless-Standards wie etwa 5G NR. NI bietet Ihnen wertvolles IP und modernste Messgeräte mit branchenführender Bandbreite, mit denen Sie die Entwicklung und Implementierung von Fertigungstests beschleunigen können.

Wichtige Eigenschaften

 

  • Branchenführende Bandbreite von 1 GHz für komplexe Hochfrequenzmessungen
  • Unterstützung von Wireless-Standards, darunter GSM, TD SCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR und 802.11a/b/g/n/ac/ax
  • Bis zu 48 bidirektionale HF-Schnittstellen mit S-Parameter-Testfunktionen
  • Bibliotheken für die Kommunikation über SPI, MIPI und benutzerdefinierte digitale Schnittstellen für Front-End-Module (FEMs)
  • (optional) Hochleistungs-HF-Datenübertragung mit bis zu +40 dBm
  • (optional) Oberwellenmessungen mit bis zu 18 GHz
  • (optional) Rauschzahlmessungen mit Y-Faktor und Unterstützung von Kältequellen

"A few of our other business units have already adopted STS, and it was some of their recommendations that first convinced our RF business unit to try it out for this Massive MIMO application. I’m very pleased by the progress, of course; in manufacturing, throughput is everything. Higher throughput means more devices shipped to our customers faster, which fundamentally means business results."

David Reed, Executive Vice President of Global Operations, NXP

IoT-Geräte

Die Hersteller von Halbleiterchips wissen, dass das Internet of Things (IoT) zu einer großen Auswahl und Fülle von IoT-Halbleiterelementen mit einem günstigen Preisniveau führt, welches mit klassischen ATE-Lösungen nur schwerlich realisiert werden kann. Für Mikrocontroller-basierte IoT-Geräte, die auf Datenübertragungsstandards wie etwa Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi und ZigBee zurückgreifen, bietet das STS eine flexible Plattform für den Fertigungstest, die entsprechend wachsenden Produktionsmengen oder knapper werdenden Budgets auf- bzw. abwärts skaliert werden kann.

Wichtige Eigenschaften

 

  • Branchenführende Bandbreite von 1 GHz für komplexe Hochfrequenzmessungen 
  • Unterstützung von Drahtlosstandards wie etwa Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi und Zigbee 
  • (optional) Instrumentierung mit Audio-Eingang/Ausgang 
  • (optional) Erzeugung und Erfassung von HF-Signalen


"When NI introduced STS, it was an obvious choice. Why wouldn’t we do it? It married PXI with ATE, which is exactly what we needed . . . We were able to save $60,000 per month and achieve a full return on our investment in less than two years. We increased our test coverage and improved our quality. Furthermore, because of the longevity of the PXI platform and the stability of NI, we are confident that we are investing in a platform that will be around for many years to come."

Warren Latter, Staff Test Engineer, ON Semiconductor

Mixed-Signal-Geräte​

Halbleiterhersteller wissen, dass das Testen von Standard- und Corner-Case-Geräten in einem vielfältigen Mixed-Signal-Portfolio häufig eine breite Palette von Testanforderungen mit sich bringt. Für Mixed-Signal-Geräte wie etwa Datenwandler, PMICs, Fingerabdrucksensoren, Linearsysteme und mikroelektromechanische Systeme bietet das STS eine flexible Plattform für den Fertigungstest, die entsprechend wachsenden Testanforderungen und knapper werdenden Budgets auf- bzw. abwärts skaliert werden kann.

Wichtige Eigenschaften

 

  • Gängige Messgeräteressourcen für das Testen von Mixed-Signal-Hardware wie etwa Digitalmessgeräte, Strom-Spannungs-Messgeräte (Gleichstrom-SMUs), Schaltmodule u. a.
  • Interaktive Software für die vereinfachte Entwicklung von Prüfprogrammen, beschleunigte Inbetriebnahme von Testern und leichtere Fehlerbehebung
  • Umfassende Messbibliothek, die eine solide Grundlage für die Entwicklung von Prüfprogrammen bereitstellt
  • (optional) Erzeugung und Erfassung von HF-Signalen
  • (optional) Instrumentierung mit Audio-Eingang/Ausgang

"In the end, we found that STS was 30 percent faster, met all our success criteria, and was cheaper to purchase than renting traditional ATE."

John Cooke, Product Test Engineer, Cirrus Logic

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Services​


Services und Support zum STS

NI bietet Ihnen spezielle Services und Programme, die auf die kritischen Anforderungen an die Betriebszeiten von Halbleiterprüfsystemen zugeschnitten sind und Sie bei der Effizienzsteigerung, Leistungsoptimierung Ihrer Tester und Erzielung einer langen Systemlebensdauer unterstützen. NI steht Ihnen bei jeder STS-Implementierung zur Seite, um den Service-Level zu ermitteln, der den Anforderungen Ihrer Anwendung am besten entspricht – damit Sie langfristig erfolgreich sind.