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PXI-2512

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PXI-Schaltmodul für parametrische Tests

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PXI-Schaltmodul für parametrische Tests mit 7 Kanälen, 10 A—Die FIU (Fault Insertion Unit) PXI‑2512 wurde für Hardware‑in‑the‑Loop‑Anwendungen und Zuverlässigkeitsprüfungen bei elektronischen Komponenten konzipiert.  Jedes Modul verfügt über einen Satz Feedthrough‑Kanäle, die auf einen oder mehrere Fehlerbusse geöffnet oder kurzgeschlossen werden können. Diese Architektur kann zur Simulation offener oder unterbrochener Verbindungen sowie kanalweise für Kurzschlüsse zwischen Pins, zu Batteriespannungen und zu Masse genutzt werden. Wird das PXI‑2512 mit dem LabVIEW Real‑Time Module gesteuert, eignet es sich besonders für die Validierung der Zuverlässigkeit von Steuer‑ und Regelsystemen wie z. B. ECUs und FADECs.

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