Parametrischer Test auf Wafer-Level

Ingenieure für Wafer-Level-Tests sehen sich damit konfrontiert, ihre Prüfzeiten zu reduzieren, ohne dass dabei die Genauigkeit und Qualität von Messungen beeinträchtigt wird.

Ein intelligenterer Ansatz für parametrische Tests auf Wafer-Level

Während die Hersteller integrierter Schaltkreise (ICs) an der Einführung neuer und innovativer Prozesse sowie kleineren Geräteabmessungen arbeiten, müssen sie sicherstellen, dass die damit einhergehende Komplexität sich nicht auf die langfristige Zuverlässigkeit der ICs auswirkt. Da sich Technologien in rasantem Tempo weiterentwickeln, müssen Halbleiterhersteller zum einen mehr Daten von Zuverlässigkeitstests erfassen und analysieren, zum anderen aber auch die Testkosten verringern. Diese Aufgabe lässt sich für viele Ingenieure und Techniker nicht mithilfe herkömmlicher Lösungen bewältigen. Daher setzen sie zunehmend auf modulare, flexible Lösungen, die sich an wechselnde Anforderungen anpassen lassen.

PXI Resource Kit

Erlernen Sie die Grundlagen der PXI-Plattform für die Halbleitercharakterisierung anhand von Hinweisen zur Systemarchitektur, anwendungsbezogenen Kundenlösungen und Leistungskennzahlen.

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Produkte und Lösungen

NI Alliance Partner Network

Das Alliance Partner Network besteht aus über 1000 Unternehmen, die sich auf Komplettlösungen spezialisiert haben. Von einzelnen Produkten über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und Schulung – NI Alliance Partner verfügen über die optimale Kombination aus technischer Ausstattung und Know-how, um auch schwierigste technische Herausforderungen zu bewältigen.