Zuverlässigkeit auf Wafer-Level

Zuverlässigkeitstests auf Wafer-Level dürfen nicht viel Platz einnehmen, müssen aber trotzdem genaue Messungen ermöglichen.

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NI-Know-how auf einen Blick

Da IC-Hersteller beständig an der Einführung neuer und innovativer Prozesse sowie abnehmenden Geräteabmessungen arbeiten, müssen sie sicherstellen, dass die daraus resultierende Komplexität sich nicht auf die langfristige Zuverlässigkeit ihrer ICs auswirkt. Da sich Technologien mit rasantem Tempo weiterentwickeln, müssen Halbleiterhersteller mehr Daten von Zuverlässigkeitstests erfassen und analysieren und zugleich die Testkosten verringern. Diese Problematik lässt sich für viele Ingenieure und Techniker nicht mithilfe herkömmlicher Lösungen bewältigen. Daher wenden sie sich modularen, flexiblen Lösungen zu, die sich an ihre Anforderungen anpassen lassen.

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Das Alliance Partner Network besteht aus über 950 Unternehmen, die sich auf Komplettlösungen spezialisiert haben. Von einzelnen Produkten über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und Schulungen – NI Alliance Partner verfügen über die optimale Kombination aus technischer Ausstattung und Know-how, um auch schwierigste technische Herausforderungen zu bewältigen.

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