Parametrische Tests auf Wafer-Level​

Ingenieure für Wafer-Level-Tests sehen sich damit konfrontiert, ihre Prüfzeiten zu reduzieren, ohne dabei die Genauigkeit und Qualität von Messungen zu beeinträchtigen.

Ein intelligenterer Ansatz für parametrische Tests auf Wafer-Level

Die Hersteller von integrierten Schaltkreisen (Integrated Circuit, IC) führen ständig neue, innovative Prozesse ein und arbeiten auf immer kleinere Bauelementabmessungen hin, wobei sie sicherstellen müssen, dass die steigende Komplexität keine negativen Auswirkungen auf die langfristige Zuverlässigkeit ihrer ICs hat. Da sich Technologien rasch weiterentwickeln, müssen Halbleiterhersteller mehr Daten von Zuverlässigkeitstests erfassen und analysieren, während sie die Testkosten senken. Ingenieure können diese Herausforderung häufig nicht mithilfe herkömmlicher Systemlösungen bewältigen und setzen daher mehr und mehr auf modulare, anpassbare Lösungen, die den wechselnden Anforderungen gewachsen sind.

Broschüre zur Halbleiterprüfung​

Erfahren Sie, wie Sie Ihre Prüfkosten durch einen plattformbasierten Ansatz für die Halbleiterprüfung senken können.

Im Fokus​

Produkte und Lösungen​

NI Alliance Partner Network

Das Alliance Partner Network besteht aus über 1.000 Unternehmen, die sich auf Komplettlösungen spezialisiert haben. Von einzelnen Produkten über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und Schulung – NI Alliance Partner verfügen über die ideale Kombination aus technischer Ausstattung und Know-how, um auch schwierigste technische Herausforderungen zu bewältigen.​

ANWENDUNGSRESSOURCEN


PXI Resource Kit​

Erlernen Sie die Grundlagen der PXI-Plattform für die Halbleitercharakterisierung anhand von Hinweisen zur Systemarchitektur, anwendungsbezogenen Kundenlösungen und Leistungskennzahlen.