Halbleiter

Die Anforderungen bei Halbleitertechnologien wachsen oft deutlich schneller als die Testabdeckung, die von herkömmlichen automatisierten Prüfsystemen für analoge, Mixed-Signal- und RF-Tests bereitgestellt werden kann. Ingenieure aus dem Bereich Halbleitertechnik benötigen daher skalierbare Lösungen, mit denen die Herausforderungen in Bezug auf Kosten, Entwurf und Geräte bewältigt werden können.

Vorteile der NI-Plattform

Geringere Prüfkosten

Ein plattformbasierter Ansatz von der Charakterisierung bis zur Produktion stellt kostenoptimierte und leistungsstarke Testlösungen für RF- und Mixed-Signal-Tests bereit.

Kürzere Testzeiten

NI-Kunden aus dem Bereich Halbleitertest berichten von einer 10-fachen Verbesserung der Testzeiten, während das Mess- und Leistungsniveau beibehalten werden konnte.

Genauere Messungen

NI-Produkte liefern branchenweit führende Messgenauigkeit und werden durch Serviceleistungen für Systeme und Kalibrierung unterstützt, sodass die Leistung langfristig sichergestellt ist.

Anwendungen

Ausgewählte Themen

The PXI-based NI Semiconductor Test System (STS) combines modular instrumentation and system design software for RF and mixed-signal production test.
Smarter Devices Require Smarter Test Systems
Find out how PXI digital pattern instruments bring semiconductor ATE digital capability to the open PXI platform.