NI PXI 半導體套餐 (Semiconductor Suite) NI PXI 半導體套餐 (Semiconductor Suite) 包含 10 款新產品，可針對軟體定義的晶片測試系統，擴充 PXI 與 NI LabVIEW 的功能。套餐具備最高 200 MHz 的數位儀控功能、最低可達 10 pA 的 DC 參數量測功能、更快的 RF 微調時間、高速數位訊號植入切換器，並可直接將 Waveform Generation Language (WGL) 與 Standard Test Interface Language (STIL) 向量格式匯入 PXI。 新款儀器可擴充 PXI 與 LabVIEW 的現有功能，建構彈性的混合式訊號測試平台，為多款半導體裝置提供檢驗、生產，與特性描述的環境。 硬體NI PXI-4132 Precision 電源量測單位 (SMU)
NI PXIe-6544/45 與 NI PXIe-6547/48 - 100 與 200 MHz 高速數位 I/O
NI PXIe-5663E - 6.6 GHz 向量訊號分析器；NI PXIe-5673E - 6.6 GHz 向量訊號產生器
了解功能 | 觀看 Demo | 觀看 NI PXIe-5663E 的規格 | 觀看 NI PXIe-5673E 的規格 NI PXI/PXIe-2515 高速數位訊號植入 (Signal Insertion) 切換器
軟體WGL/STIL 測試向量匯入作業
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可量測最低 10 pA 解析度的電流；於最高 1 kHz 亦可達 100pA 解析度；具備高階序列與觸發功能，適於進行 IC 的高速、高精確度量測作業。
透過最多 32 個通道、最高 200 MHz 以產生或擷取數位 I/O，亦可搭配如即時位元比較 (Real-time bit comparison) 的高階功能，並以強化的時序控制功能介接晶片。
透過 RF List Mode 執行高速且多頻帶的 RF 量測作業，並針對無線與混合式訊號 IC 所預先設定的功率準位，進行掃頻作業。
使用最多 32 個數位 I/O 通道，於精確的 DC 儀控作業 (包含 SMU 與 DMM) 中進行切換，適用於晶片的漏電流與其他參數量測作業。
使用 NI 軟體的 TSSI TD-Scan 並搭配 NI-HSDIO 儀控功能，以匯入 WGL 與 STIL 測試向量格式。