選擇自己的應用
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DC 參數化檢驗測試了解如何使用新的 PXI 電源量測單位 (SMU) 檢驗封裝半導體裝置的 DC 參數。此外，進一步使用新的高密度 FET矩陣切換器，以切換此精密儀器為數百個針腳。 |
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數位檢測使用具有每週期方向控制與硬體資料比較功能的 PXI 高速數位 I/O 裝置，執行如記憶體檢驗與位元錯誤率 (BER) 計算的測試。 |
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混合訊號與 RF 檢驗測試透過最新的 PXI 示波器、任意波形產生器，與 RF 設備，以檢驗並測試複雜的混合訊號功能。 |