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半导体有效性测试

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了解半导体有效性测试如何从PXI中受益

用户可通过采选灵活的硬件平台(如:PXI)和可扩展性软件(如:NI TestStand),降低半导体有效性测试的成本。PXI的模块化结构有助于创建自定义的测试系统,从而令用户根据不断发展的测试需求,调整目标。来自60多个仪器厂商的1,000余种模块可供选择, 其中包括:

  • 电流低达1 nA的源测量单元 (SMU)
  • 矩阵开关提供最多544个交叉点
  • 时钟率达200 MHz的数字I/O
  • 混合信号仪器包括: 数字化仪和DSA
  • 频率达6.6 GHz的RF采集和生成

完整的半导体系统

用户可查看架构范例(其中展现了灵活且基于PXI模块化仪器的开路/短路验证系统),或根据需要的规格配置系统。

查看参考系统 | 创建您自己的系统

半导体测试系统的单个组件

核心组件

源测量单元 (SMU)和可编程电源

高密度矩阵开关

  • 多达544个交叉点
  • FET继电器的寿期无限
  • 最高速率达50,000周/秒

高速数字I/O

  • 时钟率达200 MHz
  • 波形的高级时钟、触发、脚本编写
  • 单位周期方向控制和硬件数据比较

专用组件

混合信号仪器

  • 高速数字化仪
  • 任意波形发生器
  • 动态信号分析

RF仪器

  • 频率达6.6 GHz的采集和生成
  • 高达20 MHz的实时带宽
  • 灵活的软件 - NI调制和频谱测量工具包