반도체 검증 테스트

완벽한 반도체 시스템

PXI 모듈형 인스트루먼트에 기반한 유연성있는 opens/shorts 검증 시스템을 보여주는 예제 아키텍처를 살펴보거나, 각 요구 스펙에 맞는 시스템을 구성하십시오.

참조 시스템 보기 | 각 시스템 구축하기

개별 반도체 테스트 시스템 컴포넌트

코어 컴포넌트

SMU (Source Measure Units) 및 프로그램 가능 전원 공급

• 4-쿼드런트 (four-quadrant) 정밀 소싱
• 1 nA 및 100 µV 측정 해상도
• 최대 40 W 소싱, 최대 10 W 싱크

고밀도 매트릭스 스위치

• 최대 544개 크로스포인트
• 무제한 수명을 제공하는 FET 릴레이
• 초당 최대 50,000 주기 속도

고속 디지털 I/O

• 최고 200 MHz 클럭 속도
• 웨이브폼 고급 클럭킹, 트리거링, 스크립팅
• 주기별 방향 컨트롤 및 하드웨어 데이터 비교

특화된 컴포넌트

혼합 신호 인스트루먼트

• 고속 디지타이저
• 임의 파형 발생기
• 다이나믹 신호 분석

RF 인스트루먼트

• 최고 6.6 GHz 수집 및 생성
• 최대 20 MHz 리얼타임 대역폭
• 유연성있는 소프트웨어 - NI Modulation and Spectral Measurements toolkits