NI PXI Semiconductor Suite
NI PXI Semiconductor Suiteには、PXIとNI LabVIEWの機能を拡張してソフトウェア定義の半導体テストシステムを構築できる10種類の新製品が含まれます。最大200 MHzのデジタル計測、10 pA分解能のDCパラメトリック計測、RFチューニング時間の短縮、高速デジタル信号挿入スイッチなどの機能や、波形生成言語（WGL）および標準テストインタフェース言語（STIL）ベクトルフォーマットを直接インポートする機能が利用できます。 それらの計測器を使用すると、PXIとLabVIEWの既存機能を拡張して、検証、特性評価、製造環境で多彩な半導体デバイスに使用できる柔軟性に優れたミックスドシグナルテストプラットフォームを構築できます。 ハードウェアNI PXI-4132高精度ソースメジャーユニット（SMU）
NI PXIe-6544/45およびNI PXIe-6547/48 100/200 MHz高速デジタルI/O
NI PXIe-5663E 6.6 GHzベクトル信号アナライザ/NI PXIe-5673E 6.6 GHzベクトル信号発生器
各機能の詳細| デモを見る（英語）| NI PXIe-5663Eの仕様を見る| NI PXIe-5673Eの仕様を見る NI PXI/PXIe-2515高速デジタル信号挿入スイッチ
ソフトウェアWGL/STILテストベクトルのインポート
|
高度なシーケンス/トリガ機能でICにおける高速、高確度計測を実現することにより、10 pAから100 pA以上の分解能の電流を最大1 kHzのレートで計測できます。
リアルタイムビット比較や半導体通信におけるタイミング制御機能の強化といった高度機能により、最大32チャンネルにおいて最高200 MHzでデジタルI/Oを生成または集録できます。
RFリストモード（事前に構成した掃引リストによりチューニング等の待ち時間を減らすモード）を使って、ワイヤレスおよびミックスドシグナル集積回路に対し、パワーレベル掃引と周波数掃引が高速に実行できます。
SMUやDMMなどの高精度DC計測モジュールや、最大32本のデジタルI/Oラインの切り替えを可能にするほか、半導体チップの漏れ電流や他のパラメトリック計測が効率良く実現できます。
ナショナルインスツルメンツソフトウェア用のTSSI TD-Scanを使用して、NI-HSDIO計測で使用するためのWGLやSTILなどのテストベクトルフォーマットをインポートできます。