NI PXI Semiconductor Suite NI PXI Semiconductor Suite include 10 nuovi prodotti in grado di estendere le funzionalità di PXI e di NI LabVIEW per sistemi di test di chip definiti da software. La suite include strumentazione digitale fino a 200 MHz, misure parameteriche DC con valore minimo 10 pA, tempi di tuning RF più veloci, uno switch di inserzione del segnale digitale ad alta velocità e la capacità di importare WGL (Waveform Generation Language) e formati vettore STIL (Standard Test Interface Language) direttamente nel PXI. Questi nuovi strumenti espandono le funzionalità di PXI e LabVIEW, per offrire una piattaforma di test flessibile a segnale misto per un'ampia gamma di dispositivi semiconduttore per la validazione, la caratterizzazione e gli ambienti di sviluppo. HardwareNI PXI-4132 Precision Source Measure Unit (SMU)
Esplora le funzioni | Guarda la demo | Visualizza le specifiche NI PXIe-6544/45 - NI PXIe-6547/48 100 - 200 MHz High-Speed Digital I/O
Esplora le funzioni | Guarda la demo | Visualizza le specifiche NI PXIe-5663E 6.6 GHz Vector Signal Analyzer - NI PXIe-5673E 6.6 GHz Vector Signal Generator
Esplora le funzioni | Guarda la demo | Specifiche di NI PXIe-5663E | Specifiche per NI PXIe-5673E NI PXI/PXIe-2515 High-Speed Digital Signal Insertion Switch
Esplora le funzioni | Guarda la demo | Visualizza le specifiche SoftwareImportazione di vettore di test WGL/STIL
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Misurazione della corrente con risoluzione minima di 10 pA, e più di 100 pA a velocità fino a 1kHz con funzionalità di sequence e trigger per misure ad accuratezza elevata e ad alta velocità su circuiti integrati.
Generazione o acquisizione di I/O digitale fino a 200 MHz su un massimo di 32 canali con funzioni avanzate incluso il confronto real-time bit e migliore controllo timing per l'interfaccia su chip.
Misure RF multibanda più veloci con RF List Mode per ottenere una lista preconfigurata di livelli di potenza e frequenze su circuiti integrati wireless e a segnale misto.
Switch nella strumentazione DC di precisione inclusi SMU e DMM su un massimo di 32 linee I/O digitali per corrente di perdita e altre misure parametriche su un chip.
Importazione di formati di vettore di test WGL e STIL da utilizzare con strumentazione NI-HSDIO con TSSI TD-Scan per software National Instruments.